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Re: Halbleiteralterung

Path csiph.com!news.swapon.de!fu-berlin.de!uni-berlin.de!individual.net!not-for-mail
From Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com>
Newsgroups de.sci.electronics
Subject Re: Halbleiteralterung
Date Wed, 28 Feb 2018 00:03:55 +0100
Lines 15
Message-ID <ffm6esF7dsaU1@mid.individual.net> (permalink)
References <1nkohwx.9fgdlbnffwjiN%R.Kiefer.SPAEM@gmx.de> <XnsA892A165EA001AlwLookOnTBrightSide@penthouse.boerde.de> <p74jvr$msv$1@dont-email.me>
Mime-Version 1.0
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In-Reply-To <p74jvr$msv$1@dont-email.me>
Content-Language de-DE-1901
Xref csiph.com de.sci.electronics:241507

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Am 27.02.2018 um 22:53 schrieb Rolf Bombach:

>> Es gibt ja sowas wie Elektromigration:
>> https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration
> 
> Ist das nicht nur ein Problem bei wirklich hohen Stromdichten?

Die können punktuell auftreten, etwa wenn aufgrund von Prozeß- oder 
Maskenproblemen, oder Staub etc. irgendeine Leiterbahn auf dem Chip eine 
Einkerbung hat. Falls an der Schnürstelle die Stromdichte hoch genug ist 
für Elektromigration, setzt ein selbstverstärkener Effekt ein: Die 
Stelle wird dünner, wodurch sich die Stromdichte und damit die 
Elektromigration weiter steigert.

Hanno

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            Re: Halbleiteralterung Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> - 2018-02-24 16:16 +0100
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      Re: Halbleiteralterung Falk Dµebbert <falk@duebbert.com> - 2018-03-04 21:02 +0100
        Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-03-05 00:03 +0100

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