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Halbleiteralterung

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Contents

  Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 15:04 +0100
    Re: Halbleiteralterung Matthias Weingart <mwnews@pentax.boerde.de> - 2018-02-23 14:52 +0000
      Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 16:40 +0100
      Re: Halbleiteralterung Rolf Bombach <rolfnospambombach@invalid.invalid> - 2018-02-27 22:53 +0100
        Re: Halbleiteralterung Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com> - 2018-02-28 00:03 +0100
          Re: Halbleiteralterung "Ralph A. Schmid, dk5ras" <ralph@schmid.xxx> - 2018-03-02 09:30 +0100
            Re: Halbleiteralterung v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) - 2018-03-02 20:48 +0000
              Re: Halbleiteralterung "horst.d.winzler" <horst.d.winzler@web.de> - 2018-03-03 06:07 +0100
              Re: Halbleiteralterung "Ralph A. Schmid, dk5ras" <ralph@schmid.xxx> - 2018-03-05 15:43 +0100
                Re: Halbleiteralterung v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) - 2018-03-05 21:49 +0000
                  Re: Halbleiteralterung "horst.d.winzler" <horst.d.winzler@web.de> - 2018-03-06 11:38 +0100
          Re: Halbleiteralterung v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) - 2018-03-03 08:06 +0000
            Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-03-03 13:39 +0100
            Re: Halbleiteralterung Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com> - 2018-03-04 23:58 +0100
          Re: Halbleiteralterung Matthias Weingart <mwnews@pentax.boerde.de> - 2018-03-05 07:36 +0000
    Re: Halbleiteralterung Leo Baumann <charly020664@yahoo.de> - 2018-02-23 15:59 +0100
    Re: Halbleiteralterung Rafael Deliano <rafael_deliano@arcor.de> - 2018-02-23 17:18 +0100
      Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 18:16 +0100
        Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-23 18:23 +0100
          Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 19:19 +0100
            Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-23 19:24 +0100
              Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 22:56 +0100
                Re: Halbleiteralterung Martin Peters <martin.peters@news.uni-stuttgart.de> - 2018-02-24 12:15 +0000
                  Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-24 16:07 +0100
                    Re: Halbleiteralterung Andreas Neumann <an5275@sedo.com> - 2018-02-24 17:12 +0100
                    Re: Halbleiteralterung Martin Peters <martin.peters@news.uni-stuttgart.de> - 2018-02-24 16:21 +0000
            Re: Halbleiteralterung Hans-Peter Diettrich <DrDiettrich1@aol.com> - 2018-02-24 07:16 +0100
              Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-24 16:07 +0100
                Re: Halbleiteralterung Hans-Peter Diettrich <DrDiettrich1@aol.com> - 2018-02-25 00:24 +0100
                  Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-25 15:34 +0100
      Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-23 18:19 +0100
        Re: Halbleiteralterung Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> - 2018-02-23 18:24 +0100
          Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-23 18:35 +0100
            Re: Halbleiteralterung Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> - 2018-02-23 18:40 +0100
            Re: Halbleiteralterung Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> - 2018-02-23 19:34 +0100
          Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 19:19 +0100
            Re: Halbleiteralterung Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> - 2018-02-23 19:36 +0100
              Re: Halbleiteralterung Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com> - 2018-02-23 22:04 +0100
                Re: Halbleiteralterung Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> - 2018-02-24 09:48 +0100
        Re: Halbleiteralterung v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) - 2018-02-27 19:33 +0000
          Re: Halbleiteralterung Rolf Bombach <rolfnospambombach@invalid.invalid> - 2018-02-27 23:02 +0100
        Re: Halbleiteralterung Rolf Bombach <rolfnospambombach@invalid.invalid> - 2018-02-27 22:57 +0100
          Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-27 23:40 +0100
      Re: Halbleiteralterung Patrick Schaefer <pa.schaefer@web.de> - 2018-02-24 14:23 +0100
        Re: Halbleiteralterung Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com> - 2018-02-24 18:57 +0100
          Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-24 19:33 +0100
        Re: Halbleiteralterung Rafael Deliano <rafael_deliano@arcor.de> - 2018-02-25 07:33 +0100
          Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-25 08:14 +0100
      Re: Halbleiteralterung Christian Treffler <CTreffler.NG.Dev0@gmx.net> - 2018-02-24 15:07 +0100
        Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-24 15:15 +0100
          Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-24 16:07 +0100
            Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-24 16:13 +0100
              Re: Halbleiteralterung Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> - 2018-02-24 16:16 +0100
              Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-24 17:12 +0100
    Re: Halbleiteralterung Werner Holtfreter <holtfreter@gmx.de> - 2018-02-23 22:10 +0100
    Re: Halbleiteralterung Wolf gang P u f f e <remail@gmx.com> - 2018-02-23 22:37 +0100
      Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 22:56 +0100
    Re: Halbleiteralterung Marcel Mueller <news.5.maazl@spamgourmet.org> - 2018-02-23 23:28 +0100
    Re: Halbleiteralterung v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) - 2018-02-27 17:25 +0000
      Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-27 23:40 +0100
        Re: Halbleiteralterung Markus Elsken <markus.elsken@ewetel.net> - 2018-02-28 16:33 +0100
          Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-28 16:51 +0100
            Re: Halbleiteralterung Michael Limburg <mlimb@gmx.de> - 2018-03-01 16:59 +0100
    Re: Halbleiteralterung Thomas Stanka <usenet_nospam_valid@stanka-web.de> - 2018-03-02 02:17 -0800
    Re: Halbleiteralterung Falk Dµebbert <falk@duebbert.com> - 2018-03-04 11:55 +0100
      Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-03-04 14:27 +0100
        Re: Halbleiteralterung Falk Dµebbert <falk@duebbert.com> - 2018-03-04 21:02 +0100
          Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-03-05 00:03 +0100

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#241219 — Halbleiteralterung

Hallo!

Konkreter Fall: DRAM, PC-100 bzw. PC-133.

Mein Mac G3 b/w wurde ungefähr 1999 hergestellt. Seit ungefähr 2005
nutze ich den täglich zwischen 4 und 16 Stunden, d.h. der hat seither in
der Größenordnung 40.000 Betriebsstunden. Ausgestattet war er bis vor
ein paar Tagen mit 256MB-PC133-DIMMs der schnellstmöglichen Sorte
(2-2-2). Ihm reichen tatsächlich PC-100. Vor ein paar Wochen begann er
zickig zu werden und stürzte immer häufiger ab. Ein Speichertest zeigte
Fehler. BTW ausgelaufene oder dickbäuchige Elkos auf der Hauptplatine
können nicht dazu beitragen, da ausschließlich keramische und Tantal
verbaut sind. Die 5V gemessen am Stecker der Hauptplatine liegen bei
5,08 direkt nach dem Einschalten und bei 5,02, wenn die Grafikkarten und
andere I/O in Betrieb sind. Mit dem Oszi war ich noch nicht dran.

Mein Versuch ein einzelnes DIMM als defekt einzugrenzen mißlang, das
Fehlerverhalten war unlogisch. In der Ersatzteilkiste fanden sich andere
DIMMs, die jetzt problemlos funktionieren. Soweit, so gut :-)

Aber die defekten interessieren mich (auch). Ein anderer G3, der
deutlich weniger Laufzeit hat, muß zum Testen herhalten. Auch hier
scheitert der Versuch eines der DIMM-Module als defekt einzugrenzen.
Jedes einzelne funktioniert im stundenlangen RAM-Test. Baue ich zwei
ein, hängt's von den Sockeln ab, so funktionierte ein Paar in den beiden
unteren Sockeln im 16-stündigen RAM-Test, stieg aber schon beim ersten
Durchlauf aus, wenn ich andere Sockel nahm. Randbemerkung: die Sockel
sind alle in Ordnung, denn dieser G3 funktioniert mit seinen
ursprünglichen 4 DIMMs je 256MB problemlos.

Nach diversen kombinatorischen Tests habe ich dieses Spiel als
aussichtslos aufgegeben. Aber neue Idee: man kann den Basistakt der
Hauptplatine ändern. Die nächstlangsamere Frequenz unter 100MHz liegt
bei 94,5MHz. Damit haben alle vier DIMMs sowohl einzeln wie auch im
Viererpack den RAM-Test überstanden [1]. D.h. die schaffen einfach die
Geschwindigkeit nicht mehr.

Liegt's an parasitären Widerständen oder Kapazitäten auf den Dies, die
aufgrund des Alters entstehen und das Timing verschlechtern? Die
DRAM-Controller tragen ggf. auch ihren Teil dazu bei. Allerdings
funktionieren die auf beiden beteiligten Hauptplatinen mit anderen RAMs
weiterhin problemlos auch mit 100MHz, so daß ich die Schuld eher bei den
RAMs vermute. 

Was spielt sich da ab?


Gruß, Ralf

f'up to d.s.e

[1] Ich habe für den Test vergangene Nacht sogar den CPU-Takt
hochgesetzt, um die andere Ecke der Logik zu stressen. Die 350MHz-CPU
lief daher mit 378MHz und problemlos. Der Rechner hat als Realwelttest
viele GB zwischen Server und lokaler Festplatte fehlerfrei kopiert.
 

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#241221

R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer):

> Was spielt sich da ab?

Es gibt ja sowas wie Elektromigration: 
https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration

Vielleicht auch in Deinem Fall?
Ich hatte etwas ähnliches - irgndwann muckten bei zwei baugleichen Notebooks 
die USB 2.0 Ports und zwar nur der 480MBit-Mode. In den niedrigeren 
Geschwindigkeiten liefen die noch problemlos. Noch viel früher hatte ich 
sowas mit durchgebrannten DMA-Chips zu den Floppylaufwerken (die wurden auch 
immer glühend heiss).

Ist normal! Es heisst ja auch, dass neuere High-End-CPU's auch nur noch für 5 
Jahre Dauerbetrieb designed sind!

Es gibt noch andere Alterungseffekt, z.B. bei WLAN oder Bluetooth: irgendwann 
laufen die immer schlechter (Empfindlichkeit nimmt ab, Durchsatz sinkt, 
obwohl man direkt neben der Gegenstelle sitzt, wenn es kalt ist geht es nicht 
mehr, etwas wärmer läuft es noch), Ursache kann dann z.B. auch ein gealterter 
Quarz sein, machen Chips vertragen nur 50ppm Frequenzdrift und dann sind die 
schon frequenzmässig zu weit weg. Und 50ppm altert so ein Quarz gern mal weg 
;-)

M.
-- 

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#241224

Matthias Weingart wrote:

> Es gibt ja sowas wie Elektromigration: 
> https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration

Danke für das Stichwort, auch wenn ich nur den ersten Teil des
Wiki-Artikels verstehe.


> Vielleicht auch in Deinem Fall?

Es würde passen.


> Ich hatte etwas ähnliches - irgndwann muckten bei zwei baugleichen Notebooks
> die USB 2.0 Ports und zwar nur der 480MBit-Mode. In den niedrigeren 
> Geschwindigkeiten liefen die noch problemlos.

Klingt ähnlich, irgendein Timing oder eine Flankensteilheit.


> Noch viel früher hatte ich 
> sowas mit durchgebrannten DMA-Chips zu den Floppylaufwerken (die wurden auch
> immer glühend heiss).

Ein Temperaturproblem kennt dieses Mac-Gehäuse nicht, solange nicht der
Lüfter aufgibt. Und das hätte ich bemerkt.


Gruß, Ralf

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#241501

Matthias Weingart schrieb:
> R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer):
> 
>> Was spielt sich da ab?
> 
> Es gibt ja sowas wie Elektromigration:
> https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration

Ist das nicht nur ein Problem bei wirklich hohen Stromdichten?
Das wurde zuerst bei UHF-Sendetransistoren und dergleichen beobachtet,
lange vor den ICs. Und dort hätte ich eher bei chronisch überlasteten
Prozessoren damit gerechnet und nicht bei langsamem antiken Memory
mit grossen Strukturen (in heutigen Massstäben).

-- 
mfg Rolf Bombach

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#241507

Am 27.02.2018 um 22:53 schrieb Rolf Bombach:

>> Es gibt ja sowas wie Elektromigration:
>> https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration
> 
> Ist das nicht nur ein Problem bei wirklich hohen Stromdichten?

Die können punktuell auftreten, etwa wenn aufgrund von Prozeß- oder 
Maskenproblemen, oder Staub etc. irgendeine Leiterbahn auf dem Chip eine 
Einkerbung hat. Falls an der Schnürstelle die Stromdichte hoch genug ist 
für Elektromigration, setzt ein selbstverstärkener Effekt ein: Die 
Stelle wird dünner, wodurch sich die Stromdichte und damit die 
Elektromigration weiter steigert.

Hanno

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#241577

Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com> wrote:

>Die können punktuell auftreten, etwa wenn aufgrund von Prozeß- oder 
>Maskenproblemen, oder Staub etc. irgendeine Leiterbahn auf dem Chip eine 
>Einkerbung hat. Falls an der Schnürstelle die Stromdichte hoch genug ist 
>für Elektromigration, setzt ein selbstverstärkener Effekt ein: Die 
>Stelle wird dünner, wodurch sich die Stromdichte und damit die 
>Elektromigration weiter steigert.

Ich höre derzeit immer wieder vom Sterben des Treibertransistors in
MOSFET-Endstufen für 440 MHz. Ausgerechnet der Treiber, spec-gemäß
betrieben, und durch seine Isolation von der Außenwelt auch eher nicht
unter Fehlanpassungen leidend. Da kommt man auch auf solche
Gedanken...was Anderes fällt einem nicht mehr ein. 


-ras

-- 
Ralph A. Schmid +49-171-3631223 +49-911-21650056
http://www.schmid.xxx/ http://www.db0fue.de/
http://www.bclog.de/ http://www.kabuliyan.de/ 

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#241607

Ralph A. Schmid, dk5ras wrote:

> Ich höre derzeit immer wieder vom Sterben des Treibertransistors in
> MOSFET-Endstufen für 440 MHz.

Iiiih Transistorsender ;-) Die 2C39 geht doch bis 23cm?

-- 

"I'm a doctor, not a mechanic." Dr Leonard McCoy <mccoy@ncc1701.starfleet.fed>
"I'm a mechanic, not a doctor." Volker Borchert  <v_borchert@despammed.com>

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#241614

Am 02.03.2018 um 21:48 schrieb Volker Borchert:
> Ralph A. Schmid, dk5ras wrote:
> 
>> Ich höre derzeit immer wieder vom Sterben des Treibertransistors in
>> MOSFET-Endstufen für 440 MHz.
> 
> Iiiih Transistorsender ;-) Die 2C39 geht doch bis 23cm?
> 

Aber die Breitbandigkeit von 2C39BA Stufen ist ungenügend.
Im Übrigen gibs 70cm PA-Stufen in Fernost günstig. Man bekommt sie auch 
vollständig konfektioniert, dann eben teurer.

-- 
---hdw---

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#241672

v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) wrote:

>> Ich höre derzeit immer wieder vom Sterben des Treibertransistors in
>> MOSFET-Endstufen für 440 MHz.
>
>Iiiih Transistorsender ;-) Die 2C39 geht doch bis 23cm?

Bäh, Hochspannung, Hitze, Stromzähler rotiert wie's Böse...neee, für
10-50 W HF (das Rleais darf eh nur 15 W ERP) sind die MOSFETs genial. 


-ras

-- 
Ralph A. Schmid +49-171-3631223 +49-911-21650056
http://www.schmid.xxx/ http://www.db0fue.de/
http://www.bclog.de/ http://www.kabuliyan.de/ 

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#241685

Ralph A. Schmid, dk5ras wrote:
> v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) wrote:
> 
> >> Ich höre derzeit immer wieder vom Sterben des Treibertransistors in
> >> MOSFET-Endstufen für 440 MHz.
> >
> >Iiiih Transistorsender ;-) Die 2C39 geht doch bis 23cm?
> 
> Bäh, Hochspannung,

Naja, 600V oder so, das ist zwar keine Schutzkleinspannung mehr,
aber doch noch handhabbar.

> Hitze, Stromzähler rotiert wie's Böse...

6W Heizung.

> neee, für
> 10-50 W HF (das Rleais darf eh nur 15 W ERP) sind die MOSFETs genial. 

Das ist, soweit ich auf die Schnelle gugeln konnte, auch ungefähr
der Kragenweite der 2C39.

-- 

"I'm a doctor, not a mechanic." Dr Leonard McCoy <mccoy@ncc1701.starfleet.fed>
"I'm a mechanic, not a doctor." Volker Borchert  <v_borchert@despammed.com>

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#241695

Am 05.03.2018 um 22:49 schrieb Volker Borchert:
> Ralph A. Schmid, dk5ras wrote:
>> v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) wrote:
>>
>>>> Ich höre derzeit immer wieder vom Sterben des Treibertransistors in
>>>> MOSFET-Endstufen für 440 MHz.
>>>
>>> Iiiih Transistorsender ;-) Die 2C39 geht doch bis 23cm?
>>
>> Bäh, Hochspannung,
> 
> Naja, 600V oder so, das ist zwar keine Schutzkleinspannung mehr,
> aber doch noch handhabbar.

Anodenspannung der 2C39BA geht von 200...1000V. Je nach Anwendung und 
Lebensdauererwartung. ;-)

>> Hitze, Stromzähler rotiert wie's Böse...
> 
> 6W Heizung.

Nominal 6,3V. Mit Berücksichtigung von Rückheizung bis zu 4,5V.

>> neee, für
>> 10-50 W HF (das Rleais darf eh nur 15 W ERP) sind die MOSFETs genial.
> 
> Das ist, soweit ich auf die Schnelle gugeln konnte, auch ungefähr
> der Kragenweite der 2C39.

Als max. zulässiger Scheitelwert des Katodenstroms kann für die Röhre 
2C39 & 2c39BA für eine Impulsdauer bis max. 3µs ein Richtwert von 5_A 
angenommen werden. ;-)

-- 
---hdw---

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#241619

Hanno Foest wrote:
> Am 27.02.2018 um 22:53 schrieb Rolf Bombach:
> 
> >> Es gibt ja sowas wie Elektromigration:
> >> https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration
> > 
> > Ist das nicht nur ein Problem bei wirklich hohen Stromdichten?
> 
> Die können punktuell auftreten, etwa wenn aufgrund von Prozeß- oder 
> Maskenproblemen, oder Staub etc. irgendeine Leiterbahn auf dem Chip eine 
> Einkerbung hat. Falls an der Schnürstelle die Stromdichte hoch genug ist 
> für Elektromigration, setzt ein selbstverstärkener Effekt ein: Die 
> Stelle wird dünner, wodurch sich die Stromdichte und damit die 
> Elektromigration weiter steigert.

Das dürfte dann doch aber mit dem Durchbrennen der Leitung enden,
sodaß aus dem DRAM ein fuse programmed PROM würde? Die beobachteten
Fehler waren aber, wenn ich es richtig verstanden habe, sporadisch.

-- 

"I'm a doctor, not a mechanic." Dr Leonard McCoy <mccoy@ncc1701.starfleet.fed>
"I'm a mechanic, not a doctor." Volker Borchert  <v_borchert@despammed.com>

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#241625

Volker Borchert wrote:

> Die beobachteten
> Fehler waren aber, wenn ich es richtig verstanden habe, sporadisch.

Ja, es traten Fehler auf, allerdings weder deterministisch bei der
Adresse noch bei dem "Bit", also der Datenleitung, zudem manchmal nur 1
Bit innerhalb vom 64bit-Wort, manchmal 4, hier einen kompletten Chip
betreffend.

Im Gegensatz dazu hatte ich mal ein Powerbook G3 mit einem RAM-Fehler in
einem 512MB-Modul, bei dem exakt 1 Bit mittendrin auf genau einer
Adresse prinzipiell als '1' gelesen wird. Das ist demzufolge eine andere
Fehlerursache. Sozusagen ein RAM-Modul mit nur einem Pixelfehler ;-)

Gruß, Ralf

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#241659

Am 03.03.2018 um 09:06 schrieb Volker Borchert:

>>>> Es gibt ja sowas wie Elektromigration:
>>>> https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration
>>>
>>> Ist das nicht nur ein Problem bei wirklich hohen Stromdichten?
>>
>> Die können punktuell auftreten, etwa wenn aufgrund von Prozeß- oder
>> Maskenproblemen, oder Staub etc. irgendeine Leiterbahn auf dem Chip eine
>> Einkerbung hat. Falls an der Schnürstelle die Stromdichte hoch genug ist
>> für Elektromigration, setzt ein selbstverstärkener Effekt ein: Die
>> Stelle wird dünner, wodurch sich die Stromdichte und damit die
>> Elektromigration weiter steigert.
> 
> Das dürfte dann doch aber mit dem Durchbrennen der Leitung enden,
> sodaß aus dem DRAM ein fuse programmed PROM würde? Die beobachteten
> Fehler waren aber, wenn ich es richtig verstanden habe, sporadisch.

Ja, sicher. Mir ging es nur um Elektromigration und Stomdichten, bzw. 
darum, daß viele Leute zu glauben scheinen, daß es die dazu nötigen 
Stromdichten nur bei Leistungshalbleitern gibt.

Hanno

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#241665

Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com>:

> Am 27.02.2018 um 22:53 schrieb Rolf Bombach:
> 
>>> Es gibt ja sowas wie Elektromigration:
>>> https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration
>> 
>> Ist das nicht nur ein Problem bei wirklich hohen Stromdichten?
> 
> Die können punktuell auftreten, etwa wenn aufgrund von Prozeß- oder 
> Maskenproblemen, oder Staub etc. irgendeine Leiterbahn auf dem Chip eine 
> Einkerbung hat. Falls an der Schnürstelle die Stromdichte hoch genug ist 
> für Elektromigration, setzt ein selbstverstärkener Effekt ein: Die 
> Stelle wird dünner, wodurch sich die Stromdichte und damit die 
> Elektromigration weiter steigert.

Die Strukturgrößen sind mittlerweile im Nanometerbereich. Samsung ist ja wohl 
im Sommer 2017 auf 10nm umgestiegen. Das hat gewiss auch einen Einfluss 
(wobei die Strukturgrößen bei den beschriebenen Problemen damals noch größer 
waren ;-).

M.
-- 

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#241222

Am 23.02.2018 um 15:04 schrieb Ralf Kiefer:
> Hallo!
> 
> Konkreter Fall: DRAM, PC-100 bzw. PC-133.
> 
> Mein Mac G3 b/w wurde ungefähr 1999 hergestellt. Seit ungefähr 2005
> nutze ich den täglich zwischen 4 und 16 Stunden, d.h. der hat seither in
> der Größenordnung 40.000 Betriebsstunden. Ausgestattet war er bis vor
> ein paar Tagen mit 256MB-PC133-DIMMs der schnellstmöglichen Sorte
> (2-2-2). Ihm reichen tatsächlich PC-100. Vor ein paar Wochen begann er
> zickig zu werden und stürzte immer häufiger ab. Ein Speichertest zeigte
> Fehler. BTW ausgelaufene oder dickbäuchige Elkos auf der Hauptplatine
> können nicht dazu beitragen, da ausschließlich keramische und Tantal
> verbaut sind. Die 5V gemessen am Stecker der Hauptplatine liegen bei
> 5,08 direkt nach dem Einschalten und bei 5,02, wenn die Grafikkarten und
> andere I/O in Betrieb sind. Mit dem Oszi war ich noch nicht dran.
> 
> Mein Versuch ein einzelnes DIMM als defekt einzugrenzen mißlang, das
> Fehlerverhalten war unlogisch. In der Ersatzteilkiste fanden sich andere
> DIMMs, die jetzt problemlos funktionieren. Soweit, so gut :-)
> 
> Aber die defekten interessieren mich (auch). Ein anderer G3, der
> deutlich weniger Laufzeit hat, muß zum Testen herhalten. Auch hier
> scheitert der Versuch eines der DIMM-Module als defekt einzugrenzen.
> Jedes einzelne funktioniert im stundenlangen RAM-Test. Baue ich zwei
> ein, hängt's von den Sockeln ab, so funktionierte ein Paar in den beiden
> unteren Sockeln im 16-stündigen RAM-Test, stieg aber schon beim ersten
> Durchlauf aus, wenn ich andere Sockel nahm. Randbemerkung: die Sockel
> sind alle in Ordnung, denn dieser G3 funktioniert mit seinen
> ursprünglichen 4 DIMMs je 256MB problemlos.
> 
> Nach diversen kombinatorischen Tests habe ich dieses Spiel als
> aussichtslos aufgegeben. Aber neue Idee: man kann den Basistakt der
> Hauptplatine ändern. Die nächstlangsamere Frequenz unter 100MHz liegt
> bei 94,5MHz. Damit haben alle vier DIMMs sowohl einzeln wie auch im
> Viererpack den RAM-Test überstanden [1]. D.h. die schaffen einfach die
> Geschwindigkeit nicht mehr.
> 
> Liegt's an parasitären Widerständen oder Kapazitäten auf den Dies, die
> aufgrund des Alters entstehen und das Timing verschlechtern? Die
> DRAM-Controller tragen ggf. auch ihren Teil dazu bei. Allerdings
> funktionieren die auf beiden beteiligten Hauptplatinen mit anderen RAMs
> weiterhin problemlos auch mit 100MHz, so daß ich die Schuld eher bei den
> RAMs vermute.
> 
> Was spielt sich da ab?
> 
> 
> Gruß, Ralf
> 
> f'up to d.s.e
> 
> [1] Ich habe für den Test vergangene Nacht sogar den CPU-Takt
> hochgesetzt, um die andere Ecke der Logik zu stressen. Die 350MHz-CPU
> lief daher mit 378MHz und problemlos. Der Rechner hat als Realwelttest
> viele GB zwischen Server und lokaler Festplatte fehlerfrei kopiert.

Bevor meine beiden alten Rechner, ASUS und MSI-Board, die 16 u. 13 Jahre 
gut funktioniert haben, verstorben sind hatte ich nur einmal Probleme 
mit Kontaktproblemen der DIMMs, was sich natürlich beheben ließ. -

Einige Zeit später sind dann beide innerhalb einer Woche verstorben an 
dickbäuchigen Elkos u. möglicherweise anderen Problemen. Ich habe gar 
nicht mehr gesucht, weil die mir beide zu langsam waren u. Win10 64 
darauf nicht lief, wegen fehlender CPU-Befehle. -

Irgendwann, nach so langer Betriebszeit, ist der Zeitpunkt gekommen sich 
was Neues anzuschaffen, weil der Reparatur- u. Pflegeaufwand zu groß 
wird, Win ist ja überaus pflegebedürftig. -

Aber zu Deiner Frage: Ich denke nicht dass die Halbleiter gealtert sind, 
die Problematik vermute ich an den Bauelementen rundherum. Die 
Fehlersuche dürfte sehr arbeits- u. zeitintensiv werden ...

Bei mir waren all diese Quälereien beseitigt nachdem ich eine HP 
Workstation mit log. 8-Kerner u. 64 GiByte RAM bekommen habe.
Übrigens ist der Update-Service von HP für Allesmögliche im Rechner 
hervorragend.

Eigentlich bin ich seitdem froh, dass die "Alten" den Geist aufgegeben 
habe. Jetzt habe ich keine Störungen mehr beim Arbeiten mit dem "Neuen".

Gruß

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#241229

> Liegt's an parasitären Widerständen oder Kapazitäten auf den Dies, die
> aufgrund des Alters entstehen und das Timing verschlechtern?

Ehedem ( anno DIL ) war die Annahme, daß Plastikgehäuse im Gegensatz
zu Keramik Feuchtigkeit aufnehmen und damit die Lebensdauer dieser
ICs begrenzt ist. Hausnummer war 1mm Eindringtiefe / Jahr für 
IC-Gehäuse. Inzwischen ist das Plastik sehr dünn geworden.

MfG  JRD

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#241231

Rafael Deliano wrote:

> > Liegt's an parasitären Widerständen oder Kapazitäten auf den Dies, die
> > aufgrund des Alters entstehen und das Timing verschlechtern?
> 
> Ehedem ( anno DIL ) war die Annahme, daß Plastikgehäuse im Gegensatz
> zu Keramik Feuchtigkeit aufnehmen und damit die Lebensdauer dieser
> ICs begrenzt ist.

Einerseits bestand "schon immer" die Gefahr, daß die Abdichtung zwischen
den metallischen Beinchen und dem Plastik nicht 100%ig ist, unterstützt
schon durch die unterschiedlichen Temperaturausdehnungen der beiden
Materialien.

Andrerseits werden Chip-Gehäuse von DRAMs in Betrieb wärmer als die
umgebende Luft, so daß sie dadurch eher wieder trocknen sollten, falls
sie in Kaltzeiten Luftfeuchtigkeit aufgenommen haben sollten.

BTW meine Rechner stehen in beheizten Innenräumen, d.h. die erleben max.
16 - 35Grad Umgebungstemperatur. Anders wäre es sicherlich, wenn die
Rechner z.B. im Auto eingebaut wären.  

Und jetzt kommt meine Erfahrung aus "seligen" DIP-Zeiten mit einer
Charge DRAMs, die im Klimaschrank ihren aufgenommenen Wasseranteil in
Form von brauner Brühe an den Beinchen entlang "auskotzten", um kurz
darauf ihren Betrieb endgültig einzustellen. D.h. da hat das
eingedrungene Wasser spontan den Totalschaden verursacht.

Hier und heute mit den PC-133-RAMs habe ich allerdings "nur" eine
Verschlechterung des Timings, dies allerdings nach außerhalb des
spezifizierten.

Gruß, Ralf

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#241233

On 02/23/2018 06:16 PM, Ralf Kiefer wrote:
> eingedrungene Wasser spontan den Totalschaden verursacht.
> 
> Hier und heute mit den PC-133-RAMs habe ich allerdings "nur" eine
> Verschlechterung des Timings, dies allerdings nach außerhalb des
> spezifizierten.

Das Netzteil ist aber OK? Also nicht nur mit dem Voltmeter nachgemessen, 
sondern mit dem Oszi nach dem Ripple geschaut? Nur weil die Elkos auf 
der Platine noch gut aussehen müssen sie das nicht unbedingt sein.

Ebenso laufen PC133 mit 3,3V, die 5V vom Netzteil verifizieren sagt also 
nichts über die Qualität der Versorgung der RAMs aus.

  Gerrit

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#241238

Gerrit Heitsch wrote:

> Ebenso laufen PC133 mit 3,3V, die 5V vom Netzteil verifizieren sagt also
> nichts über die Qualität der Versorgung der RAMs aus.

Argl! Ja, du hast recht :-)

Beide Rechner laufen mit anderen DIMMs völlig problemlos, z.B. schreibe
ich das gerade auf einem. Und der Fehler wanderte mit den DIMMs von
einem zum anderen Rechnergehäuse weiter. Daher habe ich meine
Fehlersuche erstmal auf anderes fokusiert. Aber ich werde mir trotzdem
noch die Spannungen mit dem Oszi anschauen. 

Gruß, Ralf
 

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