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Re: Halbleiteralterung

From Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com>
Newsgroups de.sci.electronics
Subject Re: Halbleiteralterung
Date 2018-03-04 23:58 +0100
Message-ID <fg3c1dF62ouU2@mid.individual.net> (permalink)
References <1nkohwx.9fgdlbnffwjiN%R.Kiefer.SPAEM@gmx.de> <XnsA892A165EA001AlwLookOnTBrightSide@penthouse.boerde.de> <p74jvr$msv$1@dont-email.me> <ffm6esF7dsaU1@mid.individual.net> <p7dl2g$7o9$4@Gaia.teknon.de>

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Am 03.03.2018 um 09:06 schrieb Volker Borchert:

>>>> Es gibt ja sowas wie Elektromigration:
>>>> https://de.wikipedia.org/wiki/Elektromigration
>>>
>>> Ist das nicht nur ein Problem bei wirklich hohen Stromdichten?
>>
>> Die können punktuell auftreten, etwa wenn aufgrund von Prozeß- oder
>> Maskenproblemen, oder Staub etc. irgendeine Leiterbahn auf dem Chip eine
>> Einkerbung hat. Falls an der Schnürstelle die Stromdichte hoch genug ist
>> für Elektromigration, setzt ein selbstverstärkener Effekt ein: Die
>> Stelle wird dünner, wodurch sich die Stromdichte und damit die
>> Elektromigration weiter steigert.
> 
> Das dürfte dann doch aber mit dem Durchbrennen der Leitung enden,
> sodaß aus dem DRAM ein fuse programmed PROM würde? Die beobachteten
> Fehler waren aber, wenn ich es richtig verstanden habe, sporadisch.

Ja, sicher. Mir ging es nur um Elektromigration und Stomdichten, bzw. 
darum, daß viele Leute zu glauben scheinen, daß es die dazu nötigen 
Stromdichten nur bei Leistungshalbleitern gibt.

Hanno

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    Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-03-04 14:27 +0100
      Re: Halbleiteralterung Falk Dµebbert <falk@duebbert.com> - 2018-03-04 21:02 +0100
        Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-03-05 00:03 +0100

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