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Groups > de.sci.electronics > #199597
| Path | csiph.com!weretis.net!feeder4.news.weretis.net!hirsch.in-berlin.de!b.maus.de!Axel_Berger |
|---|---|
| From | Axel_Berger@b.maus.de (Axel Berger) |
| Newsgroups | de.sci.electronics |
| Message-ID | <201601091131.a11875@b.maus.de> (permalink) |
| References | <n6oq83$kbi$3@solani.org> |
| Organization | MAUS Berlin (+49-30-82701142) |
| Subject | Re: Transistortest |
| Date | Sat, 9 Jan 2016 11:31:00 +0100 |
| X-Gateway | b.maus.de gb1.1r 102698.1858 |
| X-Gateway-Administrator | postmaster@b.maus.de |
| MIME-Version | 1.0 |
| Content-Type | text/plain; charset=iso-8859-1 |
| Content-Transfer-Encoding | 8bit |
| Lines | 10 |
| Xref | csiph.com de.sci.electronics:199597 |
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Izur Kockenhan wrote on Fri, 16-01-08 18:05: >Tausche am bester gleich alle Enstufen-Transistoren aus. Unterschiede >sind verd?ñchtig. Ich würde eher erwarten es knallt genau einer durch und danach passiert den anderen nichts mehr. Mit einem Satz Werten, die aus der Reihe fallen, wissen wir wohl auch welcher. Auf der anderen Seite weiß natürlich niemand, wie viele Stunden die anderen alle an oder jenseits der Grenztemperatur betrieben wurden.
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Transistortest "Wilhelm C. Schütze" <wil.c@web.de> - 2016-01-08 17:57 +0100
Re: Transistortest Izur Kockenhan <charly020664@yahoo.de> - 2016-01-08 18:05 +0100
Re: Transistortest "Wilhelm C. Schütze" <wil.c@web.de> - 2016-01-08 18:21 +0100
Re: Transistortest Axel_Berger@b.maus.de (Axel Berger) - 2016-01-09 11:31 +0100
Re: Transistortest Klaus Butzmann <k.butzmann.usenet@online.de> - 2016-01-08 19:59 +0100
Re: Transistortest "Wilhelm C. Schütze" <wil.c@web.de> - 2016-01-09 12:31 +0100
Re: Transistortest Patrick Schaefer <pa.schaefer@web.de> - 2016-01-09 13:42 +0100
Re: Transistortest Rolf Bombach <rolfnospambombach@invalid.invalid> - 2016-01-29 20:58 +0100
Re: Transistortest Bernd Mayer <beam.bam.boom@knuut.de> - 2016-01-08 21:21 +0100
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