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Groups > de.sci.electronics > #241219 > unrolled thread
| Started by | R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) |
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| First post | 2018-02-23 15:04 +0100 |
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Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 15:04 +0100
Re: Halbleiteralterung Matthias Weingart <mwnews@pentax.boerde.de> - 2018-02-23 14:52 +0000
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 16:40 +0100
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Re: Halbleiteralterung v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) - 2018-03-05 21:49 +0000
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Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-24 16:07 +0100
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Re: Halbleiteralterung Rolf Bombach <rolfnospambombach@invalid.invalid> - 2018-02-27 22:57 +0100
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-27 23:40 +0100
Re: Halbleiteralterung Patrick Schaefer <pa.schaefer@web.de> - 2018-02-24 14:23 +0100
Re: Halbleiteralterung Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com> - 2018-02-24 18:57 +0100
Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-24 19:33 +0100
Re: Halbleiteralterung Rafael Deliano <rafael_deliano@arcor.de> - 2018-02-25 07:33 +0100
Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-25 08:14 +0100
Re: Halbleiteralterung Christian Treffler <CTreffler.NG.Dev0@gmx.net> - 2018-02-24 15:07 +0100
Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-24 15:15 +0100
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-24 16:07 +0100
Re: Halbleiteralterung Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> - 2018-02-24 16:13 +0100
Re: Halbleiteralterung Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> - 2018-02-24 16:16 +0100
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-24 17:12 +0100
Re: Halbleiteralterung Werner Holtfreter <holtfreter@gmx.de> - 2018-02-23 22:10 +0100
Re: Halbleiteralterung Wolf gang P u f f e <remail@gmx.com> - 2018-02-23 22:37 +0100
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-23 22:56 +0100
Re: Halbleiteralterung Marcel Mueller <news.5.maazl@spamgourmet.org> - 2018-02-23 23:28 +0100
Re: Halbleiteralterung v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) - 2018-02-27 17:25 +0000
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-27 23:40 +0100
Re: Halbleiteralterung Markus Elsken <markus.elsken@ewetel.net> - 2018-02-28 16:33 +0100
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-02-28 16:51 +0100
Re: Halbleiteralterung Michael Limburg <mlimb@gmx.de> - 2018-03-01 16:59 +0100
Re: Halbleiteralterung Thomas Stanka <usenet_nospam_valid@stanka-web.de> - 2018-03-02 02:17 -0800
Re: Halbleiteralterung Falk Dµebbert <falk@duebbert.com> - 2018-03-04 11:55 +0100
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-03-04 14:27 +0100
Re: Halbleiteralterung Falk Dµebbert <falk@duebbert.com> - 2018-03-04 21:02 +0100
Re: Halbleiteralterung R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) - 2018-03-05 00:03 +0100
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| From | Rolf Bombach <rolfnospambombach@invalid.invalid> |
|---|---|
| Date | 2018-02-27 23:02 +0100 |
| Message-ID | <p74kif$r5r$1@dont-email.me> |
| In reply to | #241496 |
Volker Borchert schrieb: > > Spekulatius: > > Wasser hat ein epsilon-r von 80. Das könnte schon das Timing versauen > oder die Nebenkapazitäten so vergrößern, daß die wenigen Elektronen aus > der Zelle keine erkennbare Eins mehr ergeben. Übertakten sollte helfen, ab ca. 50 GHz spielt das dann kaum mehr eine Rolle. 80 dürfte sich nur ausbilden, wenn viele Molekülschichten übereinander zu liegen kommen, das ist keine Eigenschaft eines einzigen Moleküls. Die Sperrschichtkapazitäten oder die dünnen SiO2 Schichten im Chip dürften eh die grösseren Kapazitätswerte aufweisen. -- mfg Rolf Bombach
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| From | Rolf Bombach <rolfnospambombach@invalid.invalid> |
|---|---|
| Date | 2018-02-27 22:57 +0100 |
| Message-ID | <p74k8p$ouj$1@dont-email.me> |
| In reply to | #241232 |
Gerrit Heitsch schrieb: > On 02/23/2018 05:18 PM, Rafael Deliano wrote: >>> Liegt's an parasitären Widerständen oder Kapazitäten auf den Dies, die >>> aufgrund des Alters entstehen und das Timing verschlechtern? >> >> Ehedem ( anno DIL ) war die Annahme, daß Plastikgehäuse im Gegensatz >> zu Keramik Feuchtigkeit aufnehmen und damit die Lebensdauer dieser >> ICs begrenzt ist. Hausnummer war 1mm Eindringtiefe / Jahr für IC-Gehäuse. Inzwischen ist das Plastik sehr dünn geworden. > > Ja, aber es laufen noch jede Menge 8Bit-Systeme aus den 80ern und deren Chipgehäuse sind keine 35mm dick. > > Auch verschwindet das Wasser wieder wenn der IC benutzt wird und sich damit aufheizt. Meiner Meinung nach wandert das Wasser eh molekülweise rein und tut dann sein Unheil. Möglicherweise spielt da die Temperatur gar keine Rolle oder sogar eine schädliche. Alle alten DEC-Prozessoren sind zuverlässig daran verreckt, die aus der frühen LSI-11-Zeit herum. -- mfg Rolf Bombach
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| From | R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) |
|---|---|
| Date | 2018-02-27 23:40 +0100 |
| Message-ID | <1nkwmpe.1y65tuq4bbq0wN%R.Kiefer.SPAEM@gmx.de> |
| In reply to | #241502 |
Rolf Bombach wrote: > Möglicherweise spielt da die Temperatur gar keine > Rolle oder sogar eine schädliche. Den Rechner, in dem diese RAMs die sehr vielen Jahre verbracht haben, habe ich nahezu täglich eingeschaltet und täglich wieder ausgeschaltet. D.h. der kam in Pausenzeiten vielleicht auf 18Grad, ggf. an sehr kalten Wintertagen und der Nachtabsenkung der Raumheizung auf 16Grad, aber im laufenden Betrieb als Gehäusetemperatur sicher nicht über 50Grad, vermutlich nicht mal wesentlich über 40Grad, weil das Gehäuse sehr gut gekühlt ist. Im anderen G3 b/w, den ich seit über 12Jahren fast rund um die Uhr betreibe, hatte ich vor ein paar Jahren auch mal ein RAM-Problem, das sich in manchen Punkten ähnlich zeigte, aber nicht ganz identisch. Insbesondere hatte ich keine eindeutige Problemlösung gefunden. Gruß, Ralf
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| From | Patrick Schaefer <pa.schaefer@web.de> |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 14:23 +0100 |
| Message-ID | <ffd79jF6ds2U1@mid.individual.net> |
| In reply to | #241229 |
Am 23.02.2018 17:18 schrieb Rafael Deliano:
> Ehedem ( anno DIL ) war die Annahme, daß Plastikgehäuse im Gegensatz
> zu Keramik Feuchtigkeit aufnehmen und damit die Lebensdauer dieser
> ICs begrenzt ist. Hausnummer war 1mm Eindringtiefe / Jahr für
> IC-Gehäuse. Inzwischen ist das Plastik sehr dünn geworden.
Dieses Problem hatte sich weitgehend erledigt als man anfing, die Chips
mit einer Siliziumoxid-Schicht zu überziehen ("passivieren").
Bei der CMOS-Serie war das der Übergang von CD4001 / CD4001A auf CD4001B.
Patrick
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| From | Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com> |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 18:57 +0100 |
| Message-ID | <ffdnctFa0shU1@mid.individual.net> |
| In reply to | #241291 |
Am 24.02.2018 um 14:23 schrieb Patrick Schaefer:
> Dieses Problem hatte sich weitgehend erledigt als man anfing, die Chips
> mit einer Siliziumoxid-Schicht zu überziehen ("passivieren").
>
> Bei der CMOS-Serie war das der Übergang von CD4001 / CD4001A auf CD4001B.
Das ist echt der Unterschied zwischen A und B? Kann man das irgendwo
nachlesen? Finde ich hochinteressant!
Hanno
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| From | Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 19:33 +0100 |
| Message-ID | <p6sb5e$8ln$1@news.bawue.net> |
| In reply to | #241335 |
On 02/24/2018 06:57 PM, Hanno Foest wrote:
> Am 24.02.2018 um 14:23 schrieb Patrick Schaefer:
>
>> Dieses Problem hatte sich weitgehend erledigt als man anfing, die
>> Chips mit einer Siliziumoxid-Schicht zu überziehen ("passivieren").
>>
>> Bei der CMOS-Serie war das der Übergang von CD4001 / CD4001A auf CD4001B.
>
> Das ist echt der Unterschied zwischen A und B? Kann man das irgendwo
> nachlesen? Finde ich hochinteressant!
Wenn das stimmt müssten alle 'A' inzwischen tot sein.
Gerrit
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| From | Rafael Deliano <rafael_deliano@arcor.de> |
|---|---|
| Date | 2018-02-25 07:33 +0100 |
| Message-ID | <p6tlb0$86b$1@dont-email.me> |
| In reply to | #241291 |
> Bei der CMOS-Serie war das der Übergang von CD4001 / CD4001A auf CD4001B. Mir wäre der als Übergang "ohne ESD-Schutz" auf "ESD-Schutz-Dioden" geläufig. Plastik ist weiterhin hygroskopisch, vgl bake out vor reflow löten. Aufwändige Verfahren a la glassivation sind zwar angepriesen worden, ich wäre aber skeptisch daß die bei consumer ICs praktische Bedeutung hatten. MfG JRD
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| From | Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> |
|---|---|
| Date | 2018-02-25 08:14 +0100 |
| Message-ID | <p6tnp6$psp$1@news.bawue.net> |
| In reply to | #241355 |
On 02/25/2018 07:33 AM, Rafael Deliano wrote: >> Bei der CMOS-Serie war das der Übergang von CD4001 / CD4001A auf CD4001B. > > Mir wäre der als Übergang "ohne ESD-Schutz" auf "ESD-Schutz-Dioden" > geläufig. > > Plastik ist weiterhin hygroskopisch, vgl bake out vor reflow löten. > > Aufwändige Verfahren a la glassivation sind zwar angepriesen worden, > ich wäre aber skeptisch daß die bei consumer ICs praktische Bedeutung > hatten. Doch, sonst halten die ICs nicht lange. Sogar Commodore hat das bei ihren Chips für den C64 (und andere) gemacht. Am Anfang mit ein paar Problemen, da sind dann die Chips trotz Passivierung nach einem halben Jahr gestorben. Gerrit
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| From | Christian Treffler <CTreffler.NG.Dev0@gmx.net> |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 15:07 +0100 |
| Message-ID | <uty3ia3rpveq$.dlg@ID-425.user.individual.de> |
| In reply to | #241229 |
Rafael Deliano schrieb: > Ehedem ( anno DIL ) war die Annahme, daß Plastikgehäuse im Gegensatz > zu Keramik Feuchtigkeit aufnehmen und damit die Lebensdauer dieser > ICs begrenzt ist. Das ist keine Annahme, sondern Fakt. Nicht umsonst werden Halbleiter im Dry-Pack mit Moisture Sensitivity Indicator ausgeliefert. > Hausnummer war 1mm Eindringtiefe / Jahr für > IC-Gehäuse. Inzwischen ist das Plastik sehr dünn geworden. Wohl war. MSL3: 168 Stunden Zeit zwischen dem Auspacken und dem Reflow-Löten. CU, Christian
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| From | Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 15:15 +0100 |
| Message-ID | <p6rs17$2m3$1@news.bawue.net> |
| In reply to | #241298 |
On 02/24/2018 03:07 PM, Christian Treffler wrote: > Rafael Deliano schrieb: > >> Ehedem ( anno DIL ) war die Annahme, daß Plastikgehäuse im Gegensatz >> zu Keramik Feuchtigkeit aufnehmen und damit die Lebensdauer dieser >> ICs begrenzt ist. > > Das ist keine Annahme, sondern Fakt. Nicht umsonst werden Halbleiter im > Dry-Pack mit Moisture Sensitivity Indicator ausgeliefert. > >> Hausnummer war 1mm Eindringtiefe / Jahr für >> IC-Gehäuse. Inzwischen ist das Plastik sehr dünn geworden. > > Wohl war. MSL3: 168 Stunden Zeit zwischen dem Auspacken und dem > Reflow-Löten. Dabei gehts aber eher um die Vermeidung des Popcorn-Effects als um Alterung des ICs. Funktionieren tun die Dinger auch noch Jahre nach dem sie aus dem Dry-Pack entnommen wurden. Gerrit
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| From | R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 16:07 +0100 |
| Message-ID | <1nkqhmd.1rcsv1hzbd3r6N%R.Kiefer.SPAEM@gmx.de> |
| In reply to | #241299 |
Gerrit Heitsch wrote: > Dabei gehts aber eher um die Vermeidung des Popcorn-Effects als um > Alterung des ICs. Funktionieren tun die Dinger auch noch Jahre nach dem > sie aus dem Dry-Pack entnommen wurden. So kenne ich das als Begründung ebenso aus der Leiterplattenbestückung im industriellen Maßstab, denn das betrifft nicht nur Chip-Gehäuse, sondern genauso Widerstände, Kapazitäten und ein paar andere Bauteile. Gruß, Ralf
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| From | Gerrit Heitsch <gerrit@laosinh.s.bawue.de> |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 16:13 +0100 |
| Message-ID | <p6rvec$42o$1@news.bawue.net> |
| In reply to | #241306 |
On 02/24/2018 04:07 PM, Ralf Kiefer wrote: > Gerrit Heitsch wrote: > >> Dabei gehts aber eher um die Vermeidung des Popcorn-Effects als um >> Alterung des ICs. Funktionieren tun die Dinger auch noch Jahre nach dem >> sie aus dem Dry-Pack entnommen wurden. > > So kenne ich das als Begründung ebenso aus der Leiterplattenbestückung > im industriellen Maßstab, denn das betrifft nicht nur Chip-Gehäuse, > sondern genauso Widerstände, Kapazitäten und ein paar andere Bauteile. Bei Widerständen und Kapazitäten kenne ich eher den Tombstone-Effect. Gerrit
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| From | Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 16:16 +0100 |
| Message-ID | <p6rvkj$a3u$1@gioia.aioe.org> |
| In reply to | #241308 |
Am 24.02.2018 um 16:13 schrieb Gerrit Heitsch: > Bei Widerständen und Kapazitäten kenne ich eher den Tombstone-Effect. Die NRA schlägt vor, dass die Bestücker sich bewaffnen sollten! CNR, Dieter
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| From | R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) |
|---|---|
| Date | 2018-02-24 17:12 +0100 |
| Message-ID | <1nkqjs3.1pv0r4qjcnvqpN%R.Kiefer.SPAEM@gmx.de> |
| In reply to | #241308 |
Gerrit Heitsch wrote: > Bei Widerständen und Kapazitäten kenne ich eher den Tombstone-Effect. Das auch, aber das ist ein anderer Effekt. Dick aufgetragene Lötpaste, zu unterschiedliches Erwärmen der Lötpaste auf den einzelnen Pads, so daß das Bauteil auf einer Seite in der verflüssigten Lötpaste bereits deutlich einsinkt, während es auf der anderen Seite noch auf der "festen" Lötpaste oben aufliegt. Oberflächenspannung von flüssiger Lötpaste kann da auch Einfluß haben. Deswegen hat so ein Ofen 15, 18, besser noch mehr Temperaturzonen, damit das Erwärmen möglichst gleichmäßig stattfindet. Mir haben die Jungz aus der Fertigung berichtet, daß auch das Hühnerfutter aufpoppen kann, wenn es zu lange "draußen" Luftfeuchtigkeit gezogen hat, weswegen sie jede ausgepackte Rolle kennzeichnen (häufig verwendete Bauteile), nach Abrüsten wieder verschweißen (selten verwendete Bauteile) oder ggf. vor dem Aufrüsten in den Trocknungsofen legen. Meine Folgerung war, daß die dieses Brimborium nicht veranstalten würden, wenn sie es noch nie erlebt hätten. Das ist die Erfahrung der Leute in der Bestückung genauso wie das Temperatur- und Luftfeuchtigkeitsfenster, in denen ihre Prozesse gut funktionieren. Denn auch die Lötpaste zieht Luftfeuchtigkeit, wenn sie offen lagert oder bereits aufgetragen ist, aber noch vor dem Ofen warten muß. Das sorgt für einen ähnlichen Effekt, nur daß dann eben kleine Lötpastenspritzer umherfliegen und ggf. auf ungeeigneten Stellen landen. Gruß, Ralf
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| From | Werner Holtfreter <holtfreter@gmx.de> |
|---|---|
| Date | 2018-02-23 22:10 +0100 |
| Message-ID | <p6q008$sf$1@news.albasani.net> |
| In reply to | #241219 |
Ralf Kiefer wrote: > Mein Versuch ein einzelnes DIMM als defekt einzugrenzen mißlang, > das Fehlerverhalten war unlogisch. Deine Frage kann ich nicht beantworten, kann aber Beispiele beitragen, nach denen eine Degradierung einzelner Komponenten im System extrem schwer zu lokalisieren ist, sofern man keine Möglichkeit hat, die Einhaltung der Spezifikation der einzelnen Komponenten zu testen, was wohl die Regel ist: Die Datenrate zu einer Festplatte brach sehr stark ein, was bei der Datensicherung auffiel. Alle anderen Festplatten liefen an dem betreffenden SATA-Port einwandfrei. Der Port schien also in Ordnung. Die Festplatte bekam dann ihren Platz hinter einem PCI-SATA-Adapter, der von sich aus langsamer war, aber die Festplatte tat es mit dieser etwas reduzierten Geschwindigkeit noch einige Jahre. Erst nachdem sich noch weitere Unregelmäßigkeiten im Rechnerbetrieb zeigten, war ein neues (gebrauchtes) Motherboard fällig. Die scheinbar degradierte Festplatte erwachte nun wieder zu vollem Leben, so dass dann wohl doch der SATA-Port des alten Mainboard aus der Spezifikation gelaufen war. Ein ähnliches Problem gibt es, wenn Datenspeichergerät und Datenspeichermedium getrennt sind, wie bei der beschreibbaren CD. Ich habe seinerzeit stets akribisch die Qualität des Brands getestet, aber schließlich geriet doch der Brenner in Verdacht, als es schlechter wurde. Eine Linsenreinigung half nur kurzfristig, hat sich also nicht gelohnt. Nach Ersatz des Brenners war alles wieder gut. Auch hier hat man wenig Möglichkeiten, die Ursache zu finden, solange kein Totalausfall vorliegt. Letztes Beispiel ist ein USB-Stick, von dem ich bootete, um Festplatten zu spiegeln. Gelegentlich, aber eben nicht immer versagte der Bootvorgang. Glücklicherweise ging der Stick dann relativ schnell soweit kaputt, dass mir weitere Fehlersuche erspart blieb: Er war nur noch teilweise auslesbar und blieb dann hängen. -- Gruß Werner „Der baldige Abgang der Deutschen aber ist Völkersterben von seiner schönsten Seite.“ Deniz Yücel http://32521.seu.cleverreach.com/c/30163247/2b9ae7d6adbd-p4jpbk
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| From | Wolf gang P u f f e <remail@gmx.com> |
|---|---|
| Date | 2018-02-23 22:37 +0100 |
| Message-ID | <p6q1i9$nt6$1@dont-email.me> |
| In reply to | #241219 |
Am 23.02.2018 um 15:04 schrieb Ralf Kiefer: ... > > Mein Versuch ein einzelnes DIMM als defekt einzugrenzen mißlang, das > Fehlerverhalten war unlogisch. In der Ersatzteilkiste fanden sich andere > DIMMs, die jetzt problemlos funktionieren. Soweit, so gut :-) > > Aber die defekten interessieren mich (auch). Ein anderer G3, der > deutlich weniger Laufzeit hat, muß zum Testen herhalten. Auch hier > scheitert der Versuch eines der DIMM-Module als defekt einzugrenzen. > Jedes einzelne funktioniert im stundenlangen RAM-Test. Baue ich zwei > ein, hängt's von den Sockeln ab, so funktionierte ein Paar in den beiden > unteren Sockeln im 16-stündigen RAM-Test, stieg aber schon beim ersten > Durchlauf aus, wenn ich andere Sockel nahm. Randbemerkung: die Sockel > sind alle in Ordnung, denn dieser G3 funktioniert mit seinen > ursprünglichen 4 DIMMs je 256MB problemlos. > > Nach diversen kombinatorischen Tests habe ich dieses Spiel als > aussichtslos aufgegeben. Aber neue Idee: man kann den Basistakt der > Hauptplatine ändern. Die nächstlangsamere Frequenz unter 100MHz liegt > bei 94,5MHz. Damit haben alle vier DIMMs sowohl einzeln wie auch im > Viererpack den RAM-Test überstanden [1]. D.h. die schaffen einfach die > Geschwindigkeit nicht mehr. Macht das Ding Dual-Channel-Modus? Vielleicht erkennt der Speicherkontroller manche Sockelbelegungen mit Modulen und schaltet in den Dual-Channel-Modus, bei dem dann Probleme (Timing) auftreten. Damals, als die ersten Boards mit Dual-Channel-Modus aufkamen, musste man gleiche Module in bestimmte Sockel stecken, sonst gabs Ärger bei ungünstigen Kombinationen. WIMRE konnte man bei manchen BIOSen Dualchannel manuel schalten um stabile Zustände zu erzwingen. Ist schon zu lange her, als dass ich mich genauer erinnern könnte was da genau war. W.
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| From | R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) |
|---|---|
| Date | 2018-02-23 22:56 +0100 |
| Message-ID | <1nkp5ob.urfe4wph2or7N%R.Kiefer.SPAEM@gmx.de> |
| In reply to | #241247 |
Wolf gang P u f f e wrote: > Macht das Ding Dual-Channel-Modus? Nein, das kann der nicht. Der RAM-Controller ist relativ doof, denn die Geschwindigkeit aller vier Sockel richtet sich nach dem langsamsten eingebauten DIMM. Ich achte trotzdem drauf, daß ich keinen wilden Mix aus unterschiedlichen Herstellern einbaue. > Damals, als die ersten Boards mit Dual-Channel-Modus aufkamen, musste > man gleiche Module in bestimmte Sockel stecken, sonst gabs Ärger bei > ungünstigen Kombinationen. Das kannten die Macs der vorherigen Generation, die mit FPM- und/oder EDO-DIMMs. Gruß, Ralf
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| From | Marcel Mueller <news.5.maazl@spamgourmet.org> |
|---|---|
| Date | 2018-02-23 23:28 +0100 |
| Message-ID | <p6q4i1$i05$1@gwaiyur.mb-net.net> |
| In reply to | #241219 |
On 23.02.18 15.04, Ralf Kiefer wrote: > Konkreter Fall: DRAM, PC-100 bzw. PC-133. > > Mein Mac G3 b/w wurde ungefähr 1999 hergestellt. Seit ungefähr 2005 > nutze ich den täglich zwischen 4 und 16 Stunden, d.h. der hat seither in > der Größenordnung 40.000 Betriebsstunden. Ausgestattet war er bis vor > ein paar Tagen mit 256MB-PC133-DIMMs der schnellstmöglichen Sorte > (2-2-2). Ihm reichen tatsächlich PC-100. Vor ein paar Wochen begann er > zickig zu werden und stürzte immer häufiger ab. Ein Speichertest zeigte > Fehler. BTW ausgelaufene oder dickbäuchige Elkos auf der Hauptplatine > können nicht dazu beitragen, da ausschließlich keramische und Tantal > verbaut sind. Jo, jo. Da sind sicher Elkos drauf. Spätestens im Netzteil. Und alle Elkos können verrecken, klassische, Tantal und auch die ach so tollen Feststoffelkos. Letztere sterben halt leise. > Aber die defekten interessieren mich (auch). Ein anderer G3, der > deutlich weniger Laufzeit hat, muß zum Testen herhalten. Auch hier > scheitert der Versuch eines der DIMM-Module als defekt einzugrenzen. > Jedes einzelne funktioniert im stundenlangen RAM-Test. Baue ich zwei > ein, hängt's von den Sockeln ab, so funktionierte ein Paar in den beiden > unteren Sockeln im 16-stündigen RAM-Test, stieg aber schon beim ersten > Durchlauf aus, wenn ich andere Sockel nahm. Randbemerkung: die Sockel > sind alle in Ordnung, denn dieser G3 funktioniert mit seinen > ursprünglichen 4 DIMMs je 256MB problemlos. Je weniger Speichermodule desto unkritischer deren Eigenschaften. Deshalb geht es oft noch, wenn nur ein Modul im Einsatz ist. Außerdem ist tatsächlich bei Teilbestückung nicht in jedem Board jeder beliebige Slot erlaubt. Da können Signalreflexionen die Qualität negativ beeinflussen. > Nach diversen kombinatorischen Tests habe ich dieses Spiel als > aussichtslos aufgegeben. Aber neue Idee: man kann den Basistakt der > Hauptplatine ändern. Die nächstlangsamere Frequenz unter 100MHz liegt > bei 94,5MHz. Damit haben alle vier DIMMs sowohl einzeln wie auch im > Viererpack den RAM-Test überstanden [1]. D.h. die schaffen einfach die > Geschwindigkeit nicht mehr. So einfach ist es meist nicht, aber dennoch kann diese Maßnahme eine ganze Weile lang herhalten. > Liegt's an parasitären Widerständen oder Kapazitäten auf den Dies, die > aufgrund des Alters entstehen und das Timing verschlechtern? Das kann nach der Zeit alles mögliche sein; von Elektromigration bis hin zu den klassischen tauben Elkos in der Stromversorgung, die die Sache sensibel machen. > Die > DRAM-Controller tragen ggf. auch ihren Teil dazu bei. Allerdings > funktionieren die auf beiden beteiligten Hauptplatinen mit anderen RAMs > weiterhin problemlos auch mit 100MHz, so daß ich die Schuld eher bei den > RAMs vermute. Kann schon sein. Tausche sie aus, und gut ist's. Und wenn das nicht hilft, hast Du immer noch die 95 MHz Variante. > [1] Ich habe für den Test vergangene Nacht sogar den CPU-Takt > hochgesetzt, um die andere Ecke der Logik zu stressen. Die 350MHz-CPU > lief daher mit 378MHz und problemlos. Der Rechner hat als Realwelttest > viele GB zwischen Server und lokaler Festplatte fehlerfrei kopiert. Bei Netzwerktransfers ist die Speicherlast aufgrund der im Vergleich langsamen Netzwerks eher gering. Marcel
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| From | v_borchert@despammed.com (Volker Borchert) |
|---|---|
| Date | 2018-02-27 17:25 +0000 |
| Message-ID | <p744b4$jap$1@Gaia.teknon.de> |
| In reply to | #241219 |
In de.alt.folklore.computer, Ralf Kiefer wrote: > > Konkreter Fall: DRAM, PC-100 bzw. PC-133. > > Liegt's an parasitären Widerständen oder Kapazitäten auf den Dies, die > aufgrund des Alters entstehen und das Timing verschlechtern? Die > DRAM-Controller tragen ggf. auch ihren Teil dazu bei. Allerdings > funktionieren die auf beiden beteiligten Hauptplatinen mit anderen RAMs > weiterhin problemlos auch mit 100MHz, so daß ich die Schuld eher bei den > RAMs vermute. > > Was spielt sich da ab? Gibt es die Riegel oder die darauf verbauten Einzelchips auch MIL? Deren Datenblätter oder Anwendungshinweise könnten aufschlußreich sein. -- "I'm a doctor, not a mechanic." Dr Leonard McCoy <mccoy@ncc1701.starfleet.fed> "I'm a mechanic, not a doctor." Volker Borchert <v_borchert@despammed.com>
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| From | R.Kiefer.SPAEM@gmx.de (Ralf Kiefer) |
|---|---|
| Date | 2018-02-27 23:40 +0100 |
| Message-ID | <1nkwm3c.3yorluhkfuj4N%R.Kiefer.SPAEM@gmx.de> |
| In reply to | #241487 |
Volker Borchert wrote: > Gibt es die Riegel oder die darauf verbauten Einzelchips auch MIL? K.A. Die Chips haben als Aufdruck: | Lei | LES32404TA-7.5 | 0212 | 32M*4 SDRAM-7.5-T Der Verkäufer mit Namen auf dem Aufkleber auf dem DIMM war ein eigentlich angesehener Händler in der damaligen Mac-Welt: DSP-Memory. Die Suche nach einem RAM-Chip mit dieser Bezeichnung sieht auf den ersten Blick nicht besonders erfolgreich aus. > Deren Datenblätter oder Anwendungshinweise könnten aufschlußreich sein. Wie werden eigentlich RAMs beschriftet, wenn sie vom Hersteller ausgesondert werden und dem Recycling übergeben werden? Könnte das Recycling unter fremder Flagge hier in Form von Auflöten geschehen sein? Gruß, Ralf
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