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Groups > de.sci.electronics > #255076 > unrolled thread
| Started by | Frank Buss <fb@frank-buss.de> |
|---|---|
| First post | 2019-03-30 10:42 +0100 |
| Last post | 2019-04-09 23:47 +0200 |
| Articles | 8 — 4 participants |
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wie oft kann man NOR Flash lesen? Frank Buss <fb@frank-buss.de> - 2019-03-30 10:42 +0100
Re: wie oft kann man NOR Flash lesen? Christian Zietz <newsgroup.1001@chz.xyz> - 2019-03-30 11:23 +0100
Re: wie oft kann man NOR Flash lesen? Stefan Reuther <stefan.news@arcor.de> - 2019-03-30 12:18 +0100
Re: wie oft kann man NOR Flash lesen? Frank Buss <fb@frank-buss.de> - 2019-04-01 01:55 +0200
Re: wie oft kann man NOR Flash lesen? Christian Zietz <newsgroup.1001@chz.xyz> - 2019-04-01 07:37 +0200
Re: wie oft kann man NOR Flash lesen? Matthias Weingart <mwnews@pentax.boerde.de> - 2019-04-01 06:34 +0000
Re: wie oft kann man NOR Flash lesen? Stefan Reuther <stefan.news@arcor.de> - 2019-04-01 18:21 +0200
Re: wie oft kann man NOR Flash lesen? Frank Buss <fb@frank-buss.de> - 2019-04-09 23:47 +0200
| From | Frank Buss <fb@frank-buss.de> |
|---|---|
| Date | 2019-03-30 10:42 +0100 |
| Subject | wie oft kann man NOR Flash lesen? |
| Message-ID | <q7ndm0$ope$1@newsreader4.netcologne.de> |
Für NAND Flash gibt es den read disturb Effekt: https://en.wikipedia.org/wiki/Flash_memory#Read_disturb Wenn man eine Zelle immer wieder liest, dann zerstört das mit der Zeit den Wert von benachbarten Zellen. Gilt das auch für NOR Flash, speziell für diese SPI-Flash ICs wie SST25VF? Jemand bei Stackexchange meint ja, aber er zitiert auch nur den Wikipedia-Eintrag über NAND Flash: https://electronics.stackexchange.com/questions/162415/will-reading-serial-flash-memory-wear-it-out Was eigentlich dagegen spricht ist, daß mir so ein Effekt bei Flash bei Microcontrollern nicht bekannt ist, da kann man problemlos jahrelang immer wieder dieselbe Zelle lesen. -- Frank Buss, http://www.frank-buss.de electronics and more: http://www.youtube.com/user/frankbuss
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| From | Christian Zietz <newsgroup.1001@chz.xyz> |
|---|---|
| Date | 2019-03-30 11:23 +0100 |
| Message-ID | <gg8udfFqg93U1@mid.individual.net> |
| In reply to | #255076 |
Frank Buss schrieb: > Für NAND Flash gibt es den read disturb Effekt: > > https://en.wikipedia.org/wiki/Flash_memory#Read_disturb > > Wenn man eine Zelle immer wieder liest, dann zerstört das mit der Zeit > den Wert von benachbarten Zellen. Gilt das auch für NOR Flash Ein Blick in die prinzipielle Schaltung (auch in dem oben verlinkten Wikipedia-Artikel) zeigt schon, warum der Effekt nur bei NAND-Flash auftritt: hier müssen zum Auslesen eines einzelnen Bits auch die benachbarten Transistoren durchgeschaltet werden, was sie auf Dauer umprogrammieren kann. Bei NOR-Flash ist das nicht der Fall. Grüße Christian -- Christian Zietz - CHZ-Soft - czietz (at) gmx.net WWW: http://www.chzsoft.de/ PGP/GnuPG-Key-ID: 0x52CB97F66DA025CA / 0x6DA025CA
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| From | Stefan Reuther <stefan.news@arcor.de> |
|---|---|
| Date | 2019-03-30 12:18 +0100 |
| Message-ID | <q7nmqv.qk.1@stefan.msgid.phost.de> |
| In reply to | #255079 |
Am 30.03.2019 um 11:23 schrieb Christian Zietz: > Frank Buss schrieb: >> Wenn man eine Zelle immer wieder liest, dann zerstört das mit der Zeit >> den Wert von benachbarten Zellen. Gilt das auch für NOR Flash > > Ein Blick in die prinzipielle Schaltung (auch in dem oben verlinkten > Wikipedia-Artikel) zeigt schon, warum der Effekt nur bei NAND-Flash > auftritt: hier müssen zum Auslesen eines einzelnen Bits auch die > benachbarten Transistoren durchgeschaltet werden, was sie auf Dauer > umprogrammieren kann. Bei NOR-Flash ist das nicht der Fall. Allerdings werden auch bei NOR-Flashes die Zellen immer kleiner, dass es da zu ungeplanten Effekten kommen kann. Ich hatte schon einen Typen in den Fingern, wo der Hersteller hinterher damit rausgerückt ist, dass sie intern bereits einen Hamming-Code generieren, sofern die Schreibmuster das zulassen. Insofern würde ich, wenn es möglich ist, einen CRC/ECC einbauen. Wenn nicht würde ich allerdings nicht viel schlechter schlafen, das treibt dann vermutlich die Ausfälle ein paar ppm hoch. Stefan
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| From | Frank Buss <fb@frank-buss.de> |
|---|---|
| Date | 2019-04-01 01:55 +0200 |
| Message-ID | <q7rk0k$sfh$1@newsreader4.netcologne.de> |
| In reply to | #255080 |
On 03/30/2019 12:18 PM, Stefan Reuther wrote: > > Allerdings werden auch bei NOR-Flashes die Zellen immer kleiner, dass es > da zu ungeplanten Effekten kommen kann. Ich hatte schon einen Typen in > den Fingern, wo der Hersteller hinterher damit rausgerückt ist, dass sie > intern bereits einen Hamming-Code generieren, sofern die Schreibmuster > das zulassen. Welcher Chip war das? Wäre natürlich auch eine gute Idee, mal die Hersteller anzufragen. Aber vermute ist schwer bei sowas eine definitive Aussage zu bekommen. > Insofern würde ich, wenn es möglich ist, einen CRC/ECC einbauen. Wenn > nicht würde ich allerdings nicht viel schlechter schlafen, das treibt > dann vermutlich die Ausfälle ein paar ppm hoch. Ja, ECC ist eine gute Idee. Irgendein Bitfehler oder ein kauputtes Bit kann ja immer mal passieren. Verwenden das Microcontroller mit dem internen NOR Flash auch? -- Frank Buss, http://www.frank-buss.de electronics and more: http://www.youtube.com/user/frankbuss
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| From | Christian Zietz <newsgroup.1001@chz.xyz> |
|---|---|
| Date | 2019-04-01 07:37 +0200 |
| Message-ID | <ggdmc3FrlhnU1@mid.individual.net> |
| In reply to | #255149 |
Frank Buss schrieb: > Ja, ECC ist eine gute Idee. Irgendein Bitfehler oder ein kauputtes Bit > kann ja immer mal passieren. Verwenden das Microcontroller mit dem > internen NOR Flash auch? Eine Mikrocontrollerfamilie, mit der ich beruflich viel zu tun habe, nutzt in der Tat ECC fürs interne Flash. Aber mit Sicherheit nicht wegen "read disturbs", was ja Deine ursprüngliche Frage war und was dort nicht auftritt, sondern um anderweitige Bitfehler zu erkennen bzw. zu korrigieren. Grüße Christian -- Christian Zietz - CHZ-Soft - czietz (at) gmx.net WWW: http://www.chzsoft.de/ PGP/GnuPG-Key-ID: 0x52CB97F66DA025CA / 0x6DA025CA
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| From | Matthias Weingart <mwnews@pentax.boerde.de> |
|---|---|
| Date | 2019-04-01 06:34 +0000 |
| Message-ID | <XnsAA24574F24E19AlwLookOnTBrightSide@penthouse.boerde.de> |
| In reply to | #255152 |
Christian Zietz <newsgroup.1001@chz.xyz>: > Frank Buss schrieb: > >> Ja, ECC ist eine gute Idee. Irgendein Bitfehler oder ein kauputtes Bit >> kann ja immer mal passieren. Verwenden das Microcontroller mit dem >> internen NOR Flash auch? > > Eine Mikrocontrollerfamilie, mit der ich beruflich viel zu tun habe, > nutzt in der Tat ECC fürs interne Flash. Aber mit Sicherheit nicht > wegen "read disturbs", was ja Deine ursprüngliche Frage war und was > dort nicht auftritt, sondern um anderweitige Bitfehler zu erkennen bzw. > zu korrigieren. Flash-Gates verlieren ja mit der Zeit an Ladung, und je höher die Temperatur ist - umso schneller. NOR-Flash für Automotive ( ...125°C) ist eigentlich schon fast nicht mehr möglich - ausser die Hersteller bauen ein paar Tricks ein (autom. neu Flashen). Ich glaube, dieser Effekt dominiert bei NOR. Zumindest ist in den einschlägigen App-Notes eher davon zu lesen und nichts von anderen Effekten. M. --
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| From | Stefan Reuther <stefan.news@arcor.de> |
|---|---|
| Date | 2019-04-01 18:21 +0200 |
| Message-ID | <q7tkqi.22s.1@stefan.msgid.phost.de> |
| In reply to | #255149 |
Am 01.04.2019 um 01:55 schrieb Frank Buss: > On 03/30/2019 12:18 PM, Stefan Reuther wrote: >> Allerdings werden auch bei NOR-Flashes die Zellen immer kleiner, dass es >> da zu ungeplanten Effekten kommen kann. Ich hatte schon einen Typen in >> den Fingern, wo der Hersteller hinterher damit rausgerückt ist, dass sie >> intern bereits einen Hamming-Code generieren, sofern die Schreibmuster >> das zulassen. > > Welcher Chip war das? Ich fürchte das fällt noch unter NDA. > Wäre natürlich auch eine gute Idee, mal die > Hersteller anzufragen. Aber vermute ist schwer bei sowas eine definitive > Aussage zu bekommen. Wie gesagt, war schwierig, fand sich dann aber indirekt über eine Application Note, die dringendst empfahl, nicht byteweise zu schreiben (wie man das ja bei NOR-Flash normalerweise kann), sondern blockweise. In meinem Fall hab ich die meisten Daten schon aus Performancegründen blockweise geschrieben, aber dann ganz zum Schluss noch mal einzeln das Gültigkeitsbit gesetzt. Das musste dann halt geändert werden. >> Insofern würde ich, wenn es möglich ist, einen CRC/ECC einbauen. Wenn >> nicht würde ich allerdings nicht viel schlechter schlafen, das treibt >> dann vermutlich die Ausfälle ein paar ppm hoch. > > Ja, ECC ist eine gute Idee. Irgendein Bitfehler oder ein kauputtes Bit > kann ja immer mal passieren. Verwenden das Microcontroller mit dem > internen NOR Flash auch? Das würde ich für insofern unwahrscheinlich halten, als dass die Microcontroller ja meistens in-place-Ausführung (XIP) machen und das beißt sich ein wenig mit einem vorgeschalteten ECC. Beziehungsweise, das bräuchte einen *sehr* intelligenten Cachecontroller. Stefan
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| From | Frank Buss <fb@frank-buss.de> |
|---|---|
| Date | 2019-04-09 23:47 +0200 |
| Message-ID | <q8j3sr$odj$1@newsreader4.netcologne.de> |
| In reply to | #255208 |
On 04/01/2019 06:21 PM, Stefan Reuther wrote: > Am 01.04.2019 um 01:55 schrieb Frank Buss: >> On 03/30/2019 12:18 PM, Stefan Reuther wrote: >>> Allerdings werden auch bei NOR-Flashes die Zellen immer kleiner, dass es >>> da zu ungeplanten Effekten kommen kann. Ich hatte schon einen Typen in >>> den Fingern, wo der Hersteller hinterher damit rausgerückt ist, dass sie >>> intern bereits einen Hamming-Code generieren, sofern die Schreibmuster >>> das zulassen. >> >> Welcher Chip war das? > > Ich fürchte das fällt noch unter NDA. > >> Wäre natürlich auch eine gute Idee, mal die >> Hersteller anzufragen. Aber vermute ist schwer bei sowas eine definitive >> Aussage zu bekommen. > > Wie gesagt, war schwierig, fand sich dann aber indirekt über eine > Application Note, die dringendst empfahl, nicht byteweise zu schreiben > (wie man das ja bei NOR-Flash normalerweise kann), sondern blockweise. Ich habe mal ein paar Tests gemacht: https://hackaday.io/page/6060-spi-flash-test Lesen scheint man unbegrenzt zu können. Zumindest gab es erst nach 118 Millionen mal die ersten paar Pages (1 page = 256 Bytes) lesen, einmal einen Fehler, und das wird wohl wegen meinem Breadboardaufbau gewesen sein. Nach Neustart, ohne neu Schreiben, lief es wieder problemlos millionenfach. Ich habe dann auch einen Schreibtest gemacht, immer auf die erste Page und gelöscht, und da hielt es 8 Millionen Zyklen (Datenblatt sagt mindestens 100.000). Nach Neustart dann 5 Millionen Zyklen. Nicht schlecht für ein 10 Cent IC. -- Frank Buss, http://www.frank-buss.de electronics and more: http://www.youtube.com/user/frankbuss
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