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Groups > de.sci.electronics > #247299 > unrolled thread
| Started by | "Michael S." <michaely@bigfoot.de> |
|---|---|
| First post | 2018-09-13 07:05 +0200 |
| Last post | 2018-09-16 00:18 +0200 |
| Articles | 20 on this page of 30 — 15 participants |
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fusing resistor als Speicher "Michael S." <michaely@bigfoot.de> - 2018-09-13 07:05 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Christian Keck <christian.keck-pfarrherr@freenet.de> - 2018-09-13 09:01 +0200
Re: fusing resistor als Speicher "Michael S." <michaely@bigfoot.de> - 2018-09-13 09:31 +0200
Re: fusing resistor als Speicher "MaWin" <me@private.net> - 2018-09-13 10:14 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> - 2018-09-13 10:17 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> - 2018-09-13 10:39 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Christian Zietz <newsgroup.1001@chz.xyz> - 2018-09-13 11:11 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> - 2018-09-13 11:20 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Edzard Egberts <news@edzeg.net> - 2018-09-13 11:31 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> - 2018-09-13 11:49 +0200
Re: fusing resistor als Speicher "Wolfgang Allinger" <all2001@spambog.com> - 2018-09-13 06:11 -0400
Re: fusing resistor als Speicher "Michael S." <michaely@bigfoot.de> - 2018-09-13 13:52 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Reinhardt Behm <rbehm@hushmail.com> - 2018-09-13 21:08 +0800
Re: fusing resistor als Speicher Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> - 2018-09-13 15:12 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Edzard Egberts <news@edzeg.net> - 2018-09-13 15:14 +0200
Re: fusing resistor als Speicher "Wolfgang Allinger" <all2001@spambog.com> - 2018-09-13 14:46 -0400
Re: fusing resistor als Speicher Axel Berger <Spam@Berger-Odenthal.De> - 2018-09-13 22:40 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Edzard Egberts <news@edzeg.net> - 2018-09-14 07:54 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Axel Berger <Spam@Berger-Odenthal.De> - 2018-09-14 11:02 +0200
Re: fusing resistor als Speicher "MaWin" <me@private.net> - 2018-09-13 11:54 +0200
Re: fusing resistor als Speicher "Michael S." <michaely@bigfoot.de> - 2018-09-13 13:56 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Wolf gang P u f f e <remail@gmx.com> - 2018-09-13 13:50 +0200
Re: fusing resistor als Speicher "Michael S." <michaely@bigfoot.de> - 2018-09-13 13:57 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Reinhardt Behm <rbehm@hushmail.com> - 2018-09-13 21:05 +0800
Re: fusing resistor als Speicher "Michael S." <michaely@bigfoot.de> - 2018-09-13 15:55 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Gerhard Hoffmann <ghf@hoffmann-hochfrequenz.de> - 2018-09-13 22:58 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Stefan Heimers <stefan.usenet@heimers.ch> - 2018-09-13 22:36 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Marcel Mueller <news.5.maazl@spamgourmet.org> - 2018-09-15 09:25 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Hans-Peter Diettrich <DrDiettrich1@aol.com> - 2018-09-15 23:12 +0200
Re: fusing resistor als Speicher Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> - 2018-09-16 00:18 +0200
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| From | "Michael S." <michaely@bigfoot.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 07:05 +0200 |
| Subject | fusing resistor als Speicher |
| Message-ID | <fvu9ggFkl5lU1@mid.individual.net> |
Hallo Leute, um das Auftreten von seltenen Einzelevents schnell und sicher abseits des Flash-Speichers speichern zu können, bin ich am Überlegen, ob es nicht Bauteile gibt, die ich per µC-Pin gezielt durchbrennen lassen kann. Bei Rückläufern könnte ich dann prüfen, ob dieses Event aufgetreten ist. Gibt es solche Bauteile in z.B. 0603-Bauform, die man mit 1..10mA von niederohmig in hochohmig umwandeln kann, am besten spottbillig. Bin mir gerade nicht sicher, nach was ich suchen soll. Normale Chip-Fuses decken diesen niedrigen Strombereich nicht ab. -- Michael
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| From | Christian Keck <christian.keck-pfarrherr@freenet.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 09:01 +0200 |
| Message-ID | <pnd1vu$83f$1@dont-email.me> |
| In reply to | #247299 |
Moin, Moin, > um das Auftreten von seltenen Einzelevents schnell und sicher abseits > des Flash-Speichers speichern zu können, bin ich am Überlegen, ob es > nicht Bauteile gibt, die ich per µC-Pin gezielt durchbrennen lassen > kann. Bei Rückläufern könnte ich dann prüfen, ob dieses Event > aufgetreten ist. > Gibt es solche Bauteile in z.B. 0603-Bauform, die man mit 1..10mA von > niederohmig in hochohmig umwandeln kann, am besten spottbillig. Bin mir > gerade nicht sicher, nach was ich suchen soll. > > Normale Chip-Fuses decken diesen niedrigen Strombereich nicht ab. Für dich wären die guten alten bipolaren PROMs (werden die überhaupt noch produziert?) die Lösung oder ein GAL, das Du on Board programmierst. Christian
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| From | "Michael S." <michaely@bigfoot.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 09:31 +0200 |
| Message-ID | <fvui25Fma9mU1@mid.individual.net> |
| In reply to | #247300 |
Am 13.09.2018 um 09:01 schrieb Christian Keck: > Moin, Moin, > >> um das Auftreten von seltenen Einzelevents schnell und sicher abseits >> > des Flash-Speichers speichern zu können, bin ich am Überlegen, ob es > > nicht Bauteile gibt, die ich per µC-Pin gezielt durchbrennen lassen > > kann. Bei Rückläufern könnte ich dann prüfen, ob dieses Event > > aufgetreten ist. >> Gibt es solche Bauteile in z.B. 0603-Bauform, die man mit 1..10mA von >> niederohmig in hochohmig umwandeln kann, am besten spottbillig. Bin >> mir gerade nicht sicher, nach was ich suchen soll. >> >> Normale Chip-Fuses decken diesen niedrigen Strombereich nicht ab. > > Für dich wären die guten alten bipolaren PROMs (werden die überhaupt > noch produziert?) die Lösung oder ein GAL, das Du on Board programmierst. Ich dachte da eher an einen 2pinner. -- Michael
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| From | "MaWin" <me@private.net> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 10:14 +0200 |
| Message-ID | <pnd68n$7p0$1@news.albasani.net> |
| In reply to | #247299 |
"Michael S." <michaely@bigfoot.de> schrieb im Newsbeitrag news:fvu9ggFkl5lU1@mid.individual.net... > Hallo Leute, > um das Auftreten von seltenen Einzelevents schnell und sicher abseits des > Flash-Speichers speichern zu können, bin ich am Überlegen, ob es nicht > Bauteile gibt, die ich per µC-Pin gezielt durchbrennen lassen kann. Bei > Rückläufern könnte ich dann prüfen, ob dieses Event aufgetreten ist. > Nicht ganz https://www.edn.com/design/systems-design/4458183/1-bit-PROM-programmer-shows-status -- MaWin, Manfred Winterhoff, mawin at gmx dot net Homepage http://www.oocities.org/mwinterhoff/ dse-FAQ: http://dse-faq.elektronik-kompendium.de/
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| From | Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 10:17 +0200 |
| Message-ID | <pnd6f0$88u$1@gioia.aioe.org> |
| In reply to | #247299 |
Am 13.09.2018 um 07:05 schrieb Michael S.: > Hallo Leute, > um das Auftreten von seltenen Einzelevents schnell und sicher abseits > des Flash-Speichers speichern zu können, bin ich am Überlegen, ob es > nicht Bauteile gibt, die ich per µC-Pin gezielt durchbrennen lassen > kann. Bei Rückläufern könnte ich dann prüfen, ob dieses Event > aufgetreten ist. > > Gibt es solche Bauteile in z.B. 0603-Bauform, die man mit 1..10mA von > niederohmig in hochohmig umwandeln kann, am besten spottbillig. Bin mir > gerade nicht sicher, nach was ich suchen soll. > > Normale Chip-Fuses decken diesen niedrigen Strombereich nicht ab. Widerstand und thermochrome Farbe. Von Faber-Castell waren die mal sehr gängig, werden aber wohl schon lange nicht mehr hergestellt. Die hier machen so was: https://www.kager.de/de/hochtemperaturprodukte/temperaturmessstreifen-und-punkte.html Gruß Dieter
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| From | Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 10:39 +0200 |
| Message-ID | <fvum1cFmnoqU1@mid.individual.net> |
| In reply to | #247299 |
Am 13.09.2018 um 07:05 schrieb Michael S.: > Hallo Leute, > um das Auftreten von seltenen Einzelevents schnell und sicher abseits > des Flash-Speichers speichern zu können, bin ich am Überlegen, ob es > nicht Bauteile gibt, die ich per µC-Pin gezielt durchbrennen lassen > kann. Bei Rückläufern könnte ich dann prüfen, ob dieses Event > aufgetreten ist. > > Gibt es solche Bauteile in z.B. 0603-Bauform, die man mit 1..10mA von > niederohmig in hochohmig umwandeln kann, am besten spottbillig. Bin mir > gerade nicht sicher, nach was ich suchen soll. Vielleicht wäre es einfacher eine Halbleiterstruktur (BE-Diode?) zu zerstören, da wird evtl. sich mehr finden, was bei 10mA aufgibt. Welche Spannung steht denn eigentlich zur Verfügung?
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| From | Christian Zietz <newsgroup.1001@chz.xyz> |
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| Date | 2018-09-13 11:11 +0200 |
| Message-ID | <fvunueFnfj6U1@mid.individual.net> |
| In reply to | #247304 |
Eric Bruecklmeier schrieb: > Vielleicht wäre es einfacher eine Halbleiterstruktur (BE-Diode?) zu > zerstören, da wird evtl. sich mehr finden, was bei 10mA aufgibt. Welche > Spannung steht denn eigentlich zur Verfügung? Ich dachte auch schon an Dioden, ggf. auch in Sperrrichtung. Frühere LEDs konnte man mit Vr=5V kaputt bekommen. Das Problem: Michaels Posting liest sich so, als ob es um ein kommerzielles Serienprodukt ginge. Dort will man natürlich nur Bauteile mit garantiertem Verhalten einsetzen. Aber kein Hersteller wird Dir *garantieren*, dass eine Diode oder ein Transistor bei Betrieb über abs-max kaputt geht. Was, wenn mal ein besonders robustes Exemplar erwischt wird? Ggf. wäre für den OP daher ein Zweidraht-EEPROM doch die bessere Wahl. (Zweidraht-OTP-EPROMS, also nicht rücksetzbar, gibt es zwar auch, aber die, die ich kenne, benötigen 12V Programmierspannung.) Grüße Christian -- Christian Zietz - CHZ-Soft - czietz (at) gmx.net WWW: http://www.chzsoft.de/ PGP/GnuPG-Key-ID: 0x52CB97F66DA025CA / 0x6DA025CA
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| From | Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 11:20 +0200 |
| Message-ID | <fvuofrFmnoqU2@mid.individual.net> |
| In reply to | #247305 |
Am 13.09.2018 um 11:11 schrieb Christian Zietz: > Eric Bruecklmeier schrieb: > >> Vielleicht wäre es einfacher eine Halbleiterstruktur (BE-Diode?) zu >> zerstören, da wird evtl. sich mehr finden, was bei 10mA aufgibt. Welche >> Spannung steht denn eigentlich zur Verfügung? > > Ich dachte auch schon an Dioden, ggf. auch in Sperrrichtung. Frühere > LEDs konnte man mit Vr=5V kaputt bekommen. Das Problem: Michaels Posting > liest sich so, als ob es um ein kommerzielles Serienprodukt ginge. Dort > will man natürlich nur Bauteile mit garantiertem Verhalten einsetzen. > Aber kein Hersteller wird Dir *garantieren*, dass eine Diode oder ein > Transistor bei Betrieb über abs-max kaputt geht. Was, wenn mal ein > besonders robustes Exemplar erwischt wird? Wenn ich ihn richtig verstehe, geht es wohl um eine Art Monitoring für "Gewährleistung" o.Ä. da könnte man ja mit etwas weniger Zuverlässigkeit Leben, dann würde man schlimmstenfalls halt unfreiwillig Kulanz walten lassen. In meinem früheren Leben hatten wir sowas mal mit Bonddrähten unter einer Keramikkappe gelöst....
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| From | Edzard Egberts <news@edzeg.net> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 11:31 +0200 |
| Message-ID | <pndaq6$ur6$1@news2.open-news-network.org> |
| In reply to | #247305 |
Christian Zietz wrote: > Aber kein Hersteller wird Dir *garantieren*, dass eine Diode oder ein > Transistor bei Betrieb über abs-max kaputt geht. Was, wenn mal ein > besonders robustes Exemplar erwischt wird? Ein Bauteil, das zuverlässig kaputt geht, wäre mir auch völlig neu. > > Ggf. wäre für den OP daher ein Zweidraht-EEPROM doch die bessere Wahl. > (Zweidraht-OTP-EPROMS, also nicht rücksetzbar, gibt es zwar auch, aber > die, die ich kenne, benötigen 12V Programmierspannung.) Warum der OP im scheinbar vorhanden Flash-Speicher nicht einfach irgendwo ein Bit setzt, verstehe ich nicht. Das ist in jedem Fall schneller und sicherer, als irgend ein Bauteil "durchzubrennen".
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| From | Eric Bruecklmeier <usenet@nerdcraft.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 11:49 +0200 |
| Message-ID | <fvuq4mFmnoqU3@mid.individual.net> |
| In reply to | #247307 |
Am 13.09.2018 um 11:31 schrieb Edzard Egberts: > Warum der OP im scheinbar vorhanden Flash-Speicher nicht einfach > irgendwo ein Bit setzt, verstehe ich nicht. Das ist in jedem Fall > schneller und sicherer, als irgend ein Bauteil "durchzubrennen". warum fragst Du ihn nicht einfach, wenns Dich interessiert?
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| From | "Wolfgang Allinger" <all2001@spambog.com> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 06:11 -0400 |
| Message-ID | <EWoVKbrUQoB@allinger-307049.user.uni-berlin> |
| In reply to | #247307 |
On 13 Sep 18 at group /de/sci/electronics in article pndaq6$ur6$1@news2.open-news-network.org <news@edzeg.net> (Edzard Egberts) wrote: > Christian Zietz wrote: >> Aber kein Hersteller wird Dir *garantieren*, dass eine Diode oder ein >> Transistor bei Betrieb über abs-max kaputt geht. Was, wenn mal ein >> besonders robustes Exemplar erwischt wird? > Ein Bauteil, das zuverlässig kaputt geht, wäre mir auch völlig neu. IIRC gibt es Sicherheits-Widerstände und -(Z)Dioden die einen garantierten Ausfallzustand haben. Widerstand wird hochohmig und Diode legiert durch bei Überlast. Hab ich früher im Exx Bereich bei Entwicklungen benutzt. Sicherungen haben auch garantierte Werte. Aber die sind alle im Leistungsbereich deutlich größer, als was der OP sucht. Vielleicht bei einem kleinen Transistor die BE-Strecke Sperrspannung überlasten... Saludos (an alle Vernünftigen, Rest sh. sig) Wolfgang -- Ich bin in Paraguay lebender Trollallergiker :) reply Adresse gesetzt! Ich diskutiere zukünftig weniger mit Idioten, denn sie ziehen mich auf ihr Niveau herunter und schlagen mich dort mit ihrer Erfahrung! :p (lt. alter usenet Weisheit) iPod, iPhone, iPad, iTunes, iRak, iDiot
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| From | "Michael S." <michaely@bigfoot.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 13:52 +0200 |
| Message-ID | <fvv1bgFpbu1U1@mid.individual.net> |
| In reply to | #247307 |
Am 13.09.2018 um 11:31 schrieb Edzard Egberts: > Christian Zietz wrote: >> Aber kein Hersteller wird Dir *garantieren*, dass eine Diode oder ein >> Transistor bei Betrieb über abs-max kaputt geht. Was, wenn mal ein >> besonders robustes Exemplar erwischt wird? > > Ein Bauteil, das zuverlässig kaputt geht, wäre mir auch völlig neu. Ich dachte, es gibt sowas als 1Bit OTP-ROM in Widerstandsbauform für wenige Cent. Technisch sollte das kein Problem sein aber offensichtlich gibt es keinen Markt dafür, sonst wären hier sicherlich schon konkrete Hinweise gekommen. >> Ggf. wäre für den OP daher ein Zweidraht-EEPROM doch die bessere Wahl. >> (Zweidraht-OTP-EPROMS, also nicht rücksetzbar, gibt es zwar auch, aber >> die, die ich kenne, benötigen 12V Programmierspannung.) > > Warum der OP im scheinbar vorhanden Flash-Speicher nicht einfach > irgendwo ein Bit setzt, verstehe ich nicht. Das ist in jedem Fall > schneller und sicherer, als irgend ein Bauteil "durchzubrennen". Weil die Routine, die den Flash-Speicher CRC-prüft bei einem Flash-Defekt da nicht mehr reinschreiben möchte, sondern das Steuergerät soll sich damit selbst als defekt markieren, statt noch ein komplexes Stück Code aus dem evtl. defekten Flash ausführen zu müssen. Das macht die Rückläuferanalyse deutlich einfacher und es gibt dann nur noch 2 Zustände, gut/defekt. Ich möchte damit vermeiden, dass ein Steuergerät mit sporadisch kaputten Flash-Zellen (z.B. temperaturabhängig) weiter betrieben wird. -- Michael
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| From | Reinhardt Behm <rbehm@hushmail.com> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 21:08 +0800 |
| Message-ID | <pndnfp$1q7$2@dont-email.me> |
| In reply to | #247315 |
AT Thursday 13 September 2018 19:52, Michael S. wrote: > Am 13.09.2018 um 11:31 schrieb Edzard Egberts: >> Christian Zietz wrote: >>> Aber kein Hersteller wird Dir *garantieren*, dass eine Diode oder ein >>> Transistor bei Betrieb über abs-max kaputt geht. Was, wenn mal ein >>> besonders robustes Exemplar erwischt wird? >> >> Ein Bauteil, das zuverlässig kaputt geht, wäre mir auch völlig neu. > > Ich dachte, es gibt sowas als 1Bit OTP-ROM in Widerstandsbauform für > wenige Cent. Technisch sollte das kein Problem sein aber offensichtlich > gibt es keinen Markt dafür, sonst wären hier sicherlich schon konkrete > Hinweise gekommen. > >>> Ggf. wäre für den OP daher ein Zweidraht-EEPROM doch die bessere Wahl. >>> (Zweidraht-OTP-EPROMS, also nicht rücksetzbar, gibt es zwar auch, aber >>> die, die ich kenne, benötigen 12V Programmierspannung.) >> >> Warum der OP im scheinbar vorhanden Flash-Speicher nicht einfach >> irgendwo ein Bit setzt, verstehe ich nicht. Das ist in jedem Fall >> schneller und sicherer, als irgend ein Bauteil "durchzubrennen". > > Weil die Routine, die den Flash-Speicher CRC-prüft bei einem > Flash-Defekt da nicht mehr reinschreiben möchte, sondern das Steuergerät > soll sich damit selbst als defekt markieren, statt noch ein komplexes > Stück Code aus dem evtl. defekten Flash ausführen zu müssen. > Das macht die Rückläuferanalyse deutlich einfacher und es gibt dann nur > noch 2 Zustände, gut/defekt. > Ich möchte damit vermeiden, dass ein Steuergerät mit sporadisch kaputten > Flash-Zellen (z.B. temperaturabhängig) weiter betrieben wird. Du sollst ja auch nicht ein Bit im Flash kaputt machen, sondern nur ändern. Evtl musst du dann halt den CRC nue berechnen und updaten. -- Reinhardt
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| From | Dieter Wiedmann <dieter.wiedmann@t-online.de> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 15:12 +0200 |
| Message-ID | <pndnng$1895$1@gioia.aioe.org> |
| In reply to | #247319 |
Am 13.09.2018 um 15:08 schrieb Reinhardt Behm: > Du sollst ja auch nicht ein Bit im Flash kaputt machen, sondern nur ändern. > Evtl musst du dann halt den CRC nue berechnen und updaten. Oder so ein EEPROM in SOT-23 mit 1-Wire dran hängen. Die kosten in Stückzahlen nur ein paar Cent. Gruß Dieter
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| From | Edzard Egberts <news@edzeg.net> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 15:14 +0200 |
| Message-ID | <pndnr8$n6l$1@news2.open-news-network.org> |
| In reply to | #247315 |
Michael S. wrote: > Am 13.09.2018 um 11:31 schrieb Edzard Egberts: >> Warum der OP im scheinbar vorhanden Flash-Speicher nicht einfach >> irgendwo ein Bit setzt, verstehe ich nicht. Das ist in jedem Fall >> schneller und sicherer, als irgend ein Bauteil "durchzubrennen". > > Weil die Routine, die den Flash-Speicher CRC-prüft bei einem > Flash-Defekt da nicht mehr reinschreiben möchte, sondern das Steuergerät > soll sich damit selbst als defekt markieren, statt noch ein komplexes > Stück Code aus dem evtl. defekten Flash ausführen zu müssen. > Das macht die Rückläuferanalyse deutlich einfacher und es gibt dann nur > noch 2 Zustände, gut/defekt. > Ich möchte damit vermeiden, dass ein Steuergerät mit sporadisch kaputten > Flash-Zellen (z.B. temperaturabhängig) weiter betrieben wird. Alternativ könntest Du bei einem CRC-Fehler einen Block im Flash löschen, so dass nach dem ersten CRC-Fehler jede weitere Abfrage garantiert wieder einen CRC-Fehler produziert. Der Übergang von "sporadisch kaputt" zu "garantiert völlig kaputt" sollte sich auch mit einem defekten Flash noch realisieren lassen.
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| From | "Wolfgang Allinger" <all2001@spambog.com> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 14:46 -0400 |
| Message-ID | <EWoVUriUQoB@allinger-307049.user.uni-berlin> |
| In reply to | #247321 |
On 13 Sep 18 at group /de/sci/electronics in article pndnr8$n6l$1@news2.open-news-network.org <news@edzeg.net> (Edzard Egberts) wrote: > Michael S. wrote: >> Am 13.09.2018 um 11:31 schrieb Edzard Egberts: >>> Warum der OP im scheinbar vorhanden Flash-Speicher nicht einfach >>> irgendwo ein Bit setzt, verstehe ich nicht. Das ist in jedem Fall >>> schneller und sicherer, als irgend ein Bauteil "durchzubrennen". >> >> Weil die Routine, die den Flash-Speicher CRC-prüft bei einem >> Flash-Defekt da nicht mehr reinschreiben möchte, sondern das Steuergerät >> soll sich damit selbst als defekt markieren, statt noch ein komplexes >> Stück Code aus dem evtl. defekten Flash ausführen zu müssen. >> Das macht die Rückläuferanalyse deutlich einfacher und es gibt dann nur >> noch 2 Zustände, gut/defekt. >> Ich möchte damit vermeiden, dass ein Steuergerät mit sporadisch kaputten >> Flash-Zellen (z.B. temperaturabhängig) weiter betrieben wird. > Alternativ könntest Du bei einem CRC-Fehler einen Block im Flash > löschen, so dass nach dem ersten CRC-Fehler jede weitere Abfrage > garantiert wieder einen CRC-Fehler produziert. Der Übergang von > "sporadisch kaputt" zu "garantiert völlig kaputt" sollte sich auch mit > einem defekten Flash noch realisieren lassen. Die Idee ist garnicht so blöd. :) Saludos (an alle Vernünftigen, Rest sh. sig) Wolfgang -- Ich bin in Paraguay lebender Trollallergiker :) reply Adresse gesetzt! Ich diskutiere zukünftig weniger mit Idioten, denn sie ziehen mich auf ihr Niveau herunter und schlagen mich dort mit ihrer Erfahrung! :p (lt. alter usenet Weisheit) iPod, iPhone, iPad, iTunes, iRak, iDiot
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| From | Axel Berger <Spam@Berger-Odenthal.De> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 22:40 +0200 |
| Message-ID | <5B9ACB38.49A9D46F@Berger-Odenthal.De> |
| In reply to | #247307 |
Edzard Egberts wrote: > Ein Bauteil, das zuverlässig kaputt geht, wäre mir auch völlig neu. Nie von Sicherungen gehört? Es gibt verschiedene Unterarten, Überstrom, Übertemperatur und etliches andrere zu überwachende. -- /¯\ No | Dipl.-Ing. F. Axel Berger Tel: +49/ 221/ 7771 8067 \ / HTML | Roald-Amundsen-Straße 2a Fax: +49/ 221/ 7771 8069 X in | D-50829 Köln-Ossendorf http://berger-odenthal.de / \ Mail | -- No unannounced, large, binary attachments, please! --
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| From | Edzard Egberts <news@edzeg.net> |
|---|---|
| Date | 2018-09-14 07:54 +0200 |
| Message-ID | <pnfif0$j9t$1@news2.open-news-network.org> |
| In reply to | #247326 |
Axel Berger wrote: > Edzard Egberts wrote: >> Ein Bauteil, das zuverlässig kaputt geht, wäre mir auch völlig neu. > > Nie von Sicherungen gehört? Es gibt verschiedene Unterarten, Überstrom, > Übertemperatur und etliches andrere zu überwachende. Doch, daran habe ich sogar gedacht, allerdings war mir auch die Anforderung "am besten spottbillig" bewusst: Die kleinsten Sicherungen, die ich bisher benutzt habe, waren 10mA-Sicherungen und die waren scheinbar handgewickelt (also nicht nur ein Draht, sondern tatsächlich eine Wicklung auf einem "Träger") und ihr Gewicht in Silber wert. Für "Mit uC-Pin schnell durchbrennen" erscheinen mir Schmelzsicherungen grundsätzlich weniger geeignet.
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| From | Axel Berger <Spam@Berger-Odenthal.De> |
|---|---|
| Date | 2018-09-14 11:02 +0200 |
| Message-ID | <5B9B7917.5F414A1A@Berger-Odenthal.De> |
| In reply to | #247331 |
Edzard Egberts wrote: > und ihr Gewicht in Silber wert. Du hast natürlich völlig recht. Deine Formulierung > >> Bauteil, das zuverlässig kaputt geht, wäre mir auch völlig neu. hat einfach einen scnr bei mir ausgelöst. -- /¯\ No | Dipl.-Ing. F. Axel Berger Tel: +49/ 221/ 7771 8067 \ / HTML | Roald-Amundsen-Straße 2a Fax: +49/ 221/ 7771 8069 X in | D-50829 Köln-Ossendorf http://berger-odenthal.de / \ Mail | -- No unannounced, large, binary attachments, please! --
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| From | "MaWin" <me@private.net> |
|---|---|
| Date | 2018-09-13 11:54 +0200 |
| Message-ID | <pndc40$r1e$1@news.albasani.net> |
| In reply to | #247299 |
"Michael S." <michaely@bigfoot.de> schrieb im Newsbeitrag news:fvu9ggFkl5lU1@mid.individual.net... > Gibt es solche Bauteile in z.B. 0603-Bauform, die man mit 1..10mA von > niederohmig in hochohmig umwandeln kann, am besten spottbillig. Bin mir > gerade nicht sicher, nach was ich suchen soll. Nicht billig, schon gar nicht spotbillig, die 5mA geht wohl an 5V Pin https://www.mouser.de/datasheet/2/240/Littelfuse_Fuse_272_273_274_278_279_Datasheet.pdf-794689.pdf -- MaWin, Manfred Winterhoff, mawin at gmx dot net Homepage http://www.oocities.org/mwinterhoff/ dse-FAQ: http://dse-faq.elektronik-kompendium.de/
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