Re: Ausfallverhalten 1N4148

From	Hartmut Kraus <hartmut.melina@web.de>
Newsgroups	de.sci.electronics
Subject	Re: Ausfallverhalten 1N4148
Date	2023-01-23 10:14 +0100
Message-ID	<tqlj59$1f6je$8@solani.org> (permalink)
References	<tqj7kp$1afir$1@gwaiyur.mb-net.net> <tqlcsu$1rtc$1@gioia.aioe.org> <tqlip9$1ihvb$1@gwaiyur.mb-net.net>

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Am 23.01.23 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:
> Am Mo.,23.01.23 um 08:27 schrieb Newdo:
>>> Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA
>>> Diodenmatrix aus 1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es
>>> das gibt). Lötstellen sind in Ordnung. Dass so eine Glasdiode
>>> gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar und könnte an
>>> einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip, Fehler
>>> an der Glas-Metallverbindung ... liegen. Aber ist ein zeitweiser
>>> Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) bauartbedingt
>>> überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen? Hat da
>>> jemand Informationen?
>>
>> Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:
>>
>> Kurzschluss 18%   Offen 24%    Parameteränderung 58%
>>
>> Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in
>> 10^9 Stunden
> 
> Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war mir klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft hochohmig werden könnte.
> 
> Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also als Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

Mal die Platine unter die Lupe genommen?

-- 
"Man sollte keine Dummheit zweimal begehen, die Auswahl ist schließlich groß genug." (Jean-Paul Sartre)

https://hkraus.eu/hk/Profil.pdf

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