Path: csiph.com!fu-berlin.de!uni-berlin.de!individual.net!not-for-mail
From: Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com>
Newsgroups: de.sci.electronics
Subject: =?UTF-8?Q?Re:_Induktivit=c3=a4t_kaputtgemessen?=
Date: Tue, 21 Nov 2017 16:06:19 +0100
Lines: 15
Message-ID: <f7itncFo88pU1@mid.individual.net>
References: <q0f81ddhcsb9es9rtitmo90n3orhtg4q7a@4ax.com>
Mime-Version: 1.0
Content-Type: text/plain; charset=windows-1252; format=flowed
Content-Transfer-Encoding: 8bit
X-Trace: individual.net E7J/1nHnU3Cmg/hFzlVG3grPE9Un3G6blIFqfQrDTWDx8PhaAB
Cancel-Lock: sha1:33PrMmRixvX751vmJbnZNbXS02g=
User-Agent: Mozilla/5.0 (X11; Linux x86_64; rv:45.0) Gecko/20100101 Thunderbird/45.8.0
In-Reply-To: <q0f81ddhcsb9es9rtitmo90n3orhtg4q7a@4ax.com>
Xref: csiph.com de.sci.electronics:235791

Am 21.11.2017 15:49 schrieb Andreas Theilmeier:

> Wenn nein, dann an dieser Stelle die Warnung vor dem Tester. An sich
> ein nettes Teil - allerdings Messströme vermutlich deutlich über 50mA
> fände ich unüblich. Andererseits bin ich vom Chinamann ja schon Kummer
> gewohnt ;-)

Das Design ist von mikrocontroller.net:

https://www.mikrocontroller.net/articles/Datei:TransistorTesterVC1.png

mit ein paar Varianten. Es würde mich wundern, wenn man damit 
Induktivitäten zerstören könnte.

Hanno