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From: Hanno Foest <hurga-news2@tigress.com>
Newsgroups: de.sci.electronics
Subject: Re: Ausfallverhalten 1N4148
Date: Mon, 23 Jan 2023 11:13:08 +0100
Lines: 29
Message-ID: <k374tkFkjs8U2@mid.individual.net>
References: <tqj7kp$1afir$1@gwaiyur.mb-net.net> <tqlcsu$1rtc$1@gioia.aioe.org> <tqlip9$1ihvb$1@gwaiyur.mb-net.net>
Mime-Version: 1.0
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Content-Language: de-DE
In-Reply-To: <tqlip9$1ihvb$1@gwaiyur.mb-net.net>
Xref: csiph.com de.sci.electronics:332675

Am 23.01.23 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

>> Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der 
>> Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:
>>
>> Kurzschluss 18%   Offen 24%    Parameteränderung 58%
>>
>> Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in
>> 10^9 Stunden
> 
> Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war mir 
> klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft 
> hochohmig werden könnte.
> 
> Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss (oder 
> extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also als 
> Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

*möglich* ist es auf jeden Fall. Z.B. Kurzschluß im Kristall + 
Kontaktierungsproblem.

Hanno

-- 
The modern conservative is engaged in one of man's oldest exercises in
moral philosophy; that is, the search for a superior moral justification
for selfishness.
- John Kenneth Galbraith