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From: Hans-Peter Diettrich <DrDiettrich1@aol.com>
Newsgroups: de.comp.lang.forth,de.sci.electronics
Subject: Re: Anwendungen / LED Rth Messung
Date: Sat, 4 Jan 2020 11:59:24 +0100
Lines: 16
Message-ID: <h7bbmnFjsfhU1@mid.individual.net>
References: <qumpt8$jl$1@dont-email.me> <qun9mo$h4g$1@dont-email.me> <qunagj$lfc$1@dont-email.me> <16b5902c58.assel@nuconverter.de> <qunmji$skk$1@dont-email.me> <4542fc2c58.mano@beagle.nucon.de>
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In-Reply-To: <4542fc2c58.mano@beagle.nucon.de>
Xref: csiph.com de.comp.lang.forth:594 de.sci.electronics:272430

Am 04.01.2020 um 10:21 schrieb Joerg Niggemeyer:

> Das System, was bislang daf=C3=BCr angeboten wird, ist fuer kleine Firm=
en
> jedenfalls unbezahlbar:
>=20
> https://www.mentor.com/products/mechanical/micred/t3ster/

Kleine Firmen bauen keine Chips, sie verwenden nur die vorgefertigten=20
Bauteile. Sie brauchen allenfalls einen go/nogo Test, um die=20
Brauchbarkeit von bestimmten Typen oder Chargen zu pr=C3=BCfen, keine Ana=
lyse=20
von Fehlerursachen im Chip Design.

DoDi