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From: Joerg Niggemeyer <beagle@nucon.de>
Newsgroups: de.comp.lang.forth,de.sci.electronics
Subject: Re: Anwendungen / LED Rth Messung
Date: Sat, 04 Jan 2020 10:21:55 +0100
Organization: Aioe.org NNTP Server
Lines: 26
Message-ID: <4542fc2c58.mano@beagle.nucon.de>
References: <qumpt8$jl$1@dont-email.me> <qun9mo$h4g$1@dont-email.me> <qunagj$lfc$1@dont-email.me> <16b5902c58.assel@nuconverter.de> <qunmji$skk$1@dont-email.me>
Reply-To: joerg.niggemeyer@nucon.de
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In message <qunmji$skk$1@dont-email.me>
          Rafael Deliano <rafael_deliano@arcor.de> wrote:



>    Ziel des Verfahrens war nondestructive testing für Serienteile.
> Aber begrenzter stress test nicht unerwünscht. Fängt Teile ab die
> dann bald beim Anwender hätten ausfallen können.

Ich bin da sehr skeptisch, ob deine zeitliche Auflösung und 
Rechenauflösung, das bringen kann. Auch die Idee oder Gefahr eines 
"Stresstests" halte ich für nicht unbedingt geeignet. Ein burn in für eine 
bestimmte Zeit plus genaue Vermessung ohne jegliche Alterung der Teile zu 
provozieren, die eben den Test noch bestehen, sollte das Ziel sein.

Das System, was bislang dafür angeboten wird, ist fuer kleine Firmen
jedenfalls unbezahlbar:

https://www.mentor.com/products/mechanical/micred/t3ster/



-- 
Joerg Niggemeyer on RISCOS 5.24 Raspberry Pi3+
http://www.led-temperature-protection.com
http://www.nucon.de